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半导体存储装置及检查方法

918   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:14
提供一种半导体存储装置,具有可瞬时进行涵盖全地址空间的失效位图的确认的单元。具备如下强制控制电路中的任意一种:对由特定的地址信号所选择的内存单元的写入数据或读出数据的逻辑进行强制控制的数据逻辑强制控制电路(21),对由特定的行地址所选择的内存单元的控制,强制进行与通常动作不同的控制的特定行强制控制电路(40),对由特定的列地址所选择的内存单元的控制,强制进行与通常动作不同的控制的特定列强制控制电路(50)。该强制失效动作模式与通常动作模式可分别选择。
声明:
“半导体存储装置及检查方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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