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BXR-606 ROHS2.0能量色散X荧光光谱仪是一款高性能的分析仪器，专门用于检测电子产品中的有害物质，如铅（Pb）、汞（Hg）、镉（Cd）、铬（Cr）、多溴联苯（PBB）、多溴联苯醚（PBDE）中的总溴，以及卤素中的溴（Br）和氯（Cl），满足ROHS2.0标准的检测需求。
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THV-10MDT自动转塔数显触摸屏维氏硬度计采用8寸触摸屏显示，操作界面采用菜单式结构，可在操作面板上选择硬度标尺HV或HK，测试的硬度值，自动计算，自动显示；可进行各种硬度值相互转换；光源亮度可无极调节；可配内置摄像头，图像更清晰。
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THBRV-187.5DX高级数显布洛维硬度计是一款功能强大的硬度检测设备，集布氏、洛氏、维氏三种硬度测试方法于一体，满足多种硬度标尺的选择需求。它采用电子电动加载和高精度传感器，配备独特的闭环控制系统，确保测量的高精度和稳定性。其带有数字编码器的目镜结构，可直接测量D1和D2值，并通过LCD显示屏实时显示硬度值和测量数据。设备支持自动选择硬度标尺和自动修正试验力，力值精度显著提升。
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火花直读光谱仪是南京淳威电子设备厂研发的高性能金属元素分析设备，基于原子发射光谱技术实现多元素快速定量分析。其工作原理通过高频火花放电激发样品表面，使金属原子蒸发并电离至高能态，随后原子返回基态时释放特征光谱线。光谱信号经帕邢-龙格光学系统色散后，由高性能CMOS检测器采集，并通过智能算法计算元素浓度。该技术可覆盖铁基、铝基、铜基等十种基体，支持60余种元素的检测，尤其擅长碳（C）、磷（P）、硫（S）等非金属元素的痕量分析。
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ICP700T是苏州安原仪器有限公司自主研发的全谱直读型电感耦合等离子体发射光谱仪，基于电感耦合等离子体（ICP）技术实现多元素高灵敏度分析。其工作原理通过高频射频电源激发氩气形成高温等离子体（温度约6000-8000K），样品溶液经雾化器转化为气溶胶后进入等离子体，元素原子被电离并激发至高能态。当原子返回基态时，发射出特征波长的光谱线，经光学系统分光后由检测器（如CID或光电倍增管）转换为电信号，通过软件计算得出元素浓度。该技术可同时分析70余种元素，覆盖从ppb级到%级的宽线性动态范围。
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SJ-210便携式表面粗糙度测量仪是一款功能强大且操作便捷的仪器，具有以下特点：配备2.4英寸大型彩色液晶显示器，带有背光灯，便于在黑暗环境中读取数据；操作界面设计合理，通过前面和滑动盖板下方的按钮即可轻松操作；最大可存储10个测量条件和一条测量曲线，同时内置存储器可保存十项测量结果；具备密码保护功能，防止误操作并保护设置；支持16种语言界面自由转换；当累积测量距离超过预设限制时，警报装置会自动报警；符合JIS、VDA、ISO-1997及ANSI等多种国际标准。
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苏州博维仪器科技有限公司的ICP700T PRO电感耦合等离子体发射光谱仪，基于电感耦合等离子体技术实现多元素定量分析。其工作原理为：高频电流通过感应线圈产生高频电磁场，使氩气电离形成约10000K的高温等离子体。样品溶液经蠕动泵输送至雾化器，形成气溶胶后被载气引入等离子体炬管，在高温下经历蒸发、解离、原子化及激发过程。激发态原子跃迁至基态时释放特征光谱，光谱信号经Czerny-Turner型光路（聚焦，由进口4320刻线离子刻蚀全息光栅分光，最终被CID检测器捕获并转换为数字信号，通过专用软件分析元素浓度。
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苏州安原仪器有限公司推出的C型腔体X荧光镀层测厚仪T-450S，是一款基于X射线荧光光谱技术的高精度检测设备，专为金属基材表面镀层厚度及成分分析设计。其工作原理为：仪器通过微聚焦增强型X射线管发射高能X射线，激发镀层元素产生特征荧光X射线，探测器接收信号后结合增强FP算法软件，精确计算镀层厚度及元素含量。该技术实现无损检测，最小测量点可达0.15mm，厚度检出限低至1nm，成分检出限达1ppm，支持多层镀层（最多15层）及24种元素同步分析。
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佳谱仪器T450Splus镀层测厚仪是一款高性能X射线荧光光谱仪，专为高精度镀层厚度及成分分析设计。其工作原理基于X射线荧光技术：仪器通过微聚焦增强型射线管发射高能X射线，激发镀层元素产生特征荧光X射线，探测器接收信号后结合增强FP算法软件与变焦装置，精确计算镀层厚度及元素含量。该技术实现无损检测，最小测量点可达0.25mm，厚度检出限低至1nm，成分检出限达1ppm，支持多层镀层（最多15层）及24种元素同步分析。
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江苏一六仪器有限公司推出的XTD-200全自动镀层测厚仪是一款专为复杂镀层体系设计的智能化检测设备，采用X射线荧光光谱技术（XRF）实现无损、高精度测量。其核心工作原理基于X射线与镀层材料的相互作用：仪器发射微聚焦X射线照射样品表面，激发镀层元素产生特征荧光X射线，通过分析荧光强度与波长，结合多元迭代EFP算法，可精准计算镀层厚度及成分含量。该技术无需破坏样品，测量范围覆盖0.005-100μm（厚度检出限），成分检出限达1ppm，支持多层镀层（如Au/Ni/Cu）及重复镀层（如Ni/Cu/Ni）的逐层分析。
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苏州实谱仪器有限公司推出的T-350M镀层测厚仪是一款基于X射线荧光光谱技术（XRF）的高精度无损检测设备，专为金属镀层厚度及成分分析设计。其核心工作原理是通过微聚焦X射线管激发样品表面，使镀层中的元素释放特征X射线荧光，探测器（如SDD或Si-Pin）捕捉信号后，结合增强型FP算法计算镀层厚度及元素含量。该技术无需破坏样品，支持多元素同步分析，可穿透表面氧化层直接测量基材镀层厚度，测量范围覆盖0.01-100μm，精度达±1%，分辨率优于0.001μm。
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DVT-CHX-3000是无锡动视宫原科技有限公司研发的低辐射射线测厚仪，专为塑料薄膜、无纺布、金属箔材及橡胶等材料的在线厚度检测设计。其核心工作原理基于射线穿透吸收式测量技术：当射线（如β射线）穿透材料时，材料对射线的吸收与衰减程度与面密度（克重）呈正相关。在材料体积密度一致或波动较小时，可通过面密度与密度的换算关系间接测量厚度。设备采用双闭环电路控制系统，确保射线强度长期稳定，配合德国前置放大电路技术的高信噪比探测器，可精准识别微小厚度变化，空间分辨精度高，条纹缺陷识别能力强。
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XTU-A型镀层测厚仪由苏州吉恩斯检测技术服务有限公司研发生产，是一款基于X射线荧光光谱技术的非接触式无损检测设备。其核心工作原理通过下照式C型腔体设计，利用X射线穿透样品时因涂镀层厚度差异导致的能量衰减变化，结合EFP核心算法与多道脉冲分析系统，精准解析涂层成分及厚度数据。该仪器可检测元素范围覆盖氯（Cl）至铀（U），厚度检出限达0.005μm，成分检出限低至1ppm，最小测量直径仅0.2mm，适用于平面、微小样品及凹槽深度≤30mm的异形件检测。
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苏州安原仪器有限公司的LS225涂层测厚仪是一款专为金属表面涂层厚度检测设计的高精度便携式设备，适用于工业生产与质量控制场景。该仪器采用磁感应或涡流感应技术，通过探头与基材的电磁交互实现无损测量。当测量铁磁性金属基材（如钢铁）上的非磁性涂层（如镀锌、镀铬、油漆等）时，仪器利用磁感应原理，通过探头磁线圈与基材间磁场强度的变化推导涂层厚度；针对非铁磁性金属基材（如铝、铜）上的非导电涂层（如阳极氧化层、陶瓷涂层等），则采用涡流感应技术，通过高频交变磁场在基材中感应的涡流变化进行厚度分析。
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苏州惠更斯仪器科技有限公司推出的EDX2000A荧光光谱仪，是一款基于能量色散X射线荧光光谱（EDXRF）技术的高精度分析设备，专为金属镀层厚度检测与元素成分分析设计。其核心工作原理通过微焦斑X射线管（W靶）发射高能X射线，激发样品表面原子产生特征荧光X射线，SDD探测器接收信号后，结合FP（基本参数法）与MLSQ（多变量最小二乘法）算法，快速解析镀层厚度与元素含量。该仪器采用自动对焦与三维移动平台（XYZ轴，荷载5kg），可精准定位复杂结构镀层，支持单点与多点连续测量。
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艾利特克(苏州)科学仪器有限公司推出的金属镀层检测仪，是一款基于X射线荧光光谱（XRF）技术的高精度分析设备，专为金属材料表面镀层厚度及成分分析设计。其核心工作原理是通过X射线管发射高能X射线，激发样品表面镀层与基材的原子特征荧光。探测器捕获荧光信号后，结合光谱解谱算法与机器视觉技术，可同步分析多层镀层厚度及元素组成，覆盖Mg至U元素周期表，支持单层、合金镀层及复杂多层结构（如Au/Ni/Cu、Sn/Ni/Cu）的精准检测。
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深圳市天创美科技有限公司推出的ICP-OES原子发射光谱检测仪，是一款基于电感耦合等离子体发射光谱技术（ICP-OES）的高精度分析设备，专为多元素痕量分析设计。其工作原理通过高频电磁场（27.12MHz）激发氩气形成高温等离子体炬焰（温度达6000-10000K），样品经雾化后进入等离子体，原子被电离并跃迁至激发态，返回基态时释放特征光谱。仪器采用Czerny-Turner型光路与离子刻蚀全息光栅（3600线/mm或2400线/mm），实现190-800nm全波段光谱采集，分辨率≤0.008nm（3600线光栅），可同步检测70余种元素，检出限低至ppb级。
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苏州福佰特仪器科技有限公司EDX1800矿石化验仪是一款基于X射线荧光光谱技术（XRF）研发的高精度分析设备，专为矿石成分快速检测设计。该仪器通过高压电源激发X光管产生初级X射线，穿透样品后激发特征荧光，电制冷Si-Pin探测器捕获信号并转换为数字信号，结合FP基本算法、经验系数法等多重算法，实现矿石中元素的定性定量分析。其检测范围覆盖硫(S)至铀(U)之间的30余种元素，分析含量可达2ppm-99.99%，检测限低至2ppm，能量分辨率144±5eV，满足纳米级矿物成分分析需求。
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深圳市天创美科技有限公司研发的手持式合金光谱检测仪，是一款基于X射线荧光光谱技术（XRF）的便携式元素分析设备，专为金属材料快速成分鉴定与成分分析设计。其核心原理通过微型X射线管发射高能射线，激发合金表面原子内层电子跃迁，释放特征荧光光谱。探测器捕获荧光信号后，结合智能算法与标准谱库，实现合金牌号识别及元素含量（如铁、铜、铝、镍、钛、钼等）的实时定量分析，覆盖轻金属至重金属全谱段检测。
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苏州福佰特仪器科技有限公司EDX 2000A电镀层测厚仪是一款基于X射线荧光光谱技术（XRF）研发的高精度无损检测设备，专为金属镀层厚度分析设计。该仪器通过高压电子流激发X光管产生初级X射线，穿透镀层后激发特征荧光，探测器捕获荧光信号并转换为数字信号，结合专业软件计算得出镀层厚度及元素组成。其检测范围覆盖氯(Cl)至铀(U)之间的24种元素，可同时分析23层镀层结构，单层测量精度达±0.001%，最薄检出限低至0.005μm，满足纳米级薄膜分析需求。
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昆山市玉山镇兴羽腾仪器经营部推出的金属镀层厚度检测仪Thick800A，是一款基于X射线荧光光谱技术（XRF）的高精度无损检测设备，专为金属镀层厚度分析设计。该仪器通过高压电子流激发X光管产生初级X射线，经样品激发后产生特征X荧光，探测器捕获荧光信号并转换为数字信号，结合专业软件计算得出镀层厚度及元素组成。其检测范围覆盖硫(S)至铀(U)之间的30余种元素，可同时分析5层镀层结构，单层测量精度达±0.005μm，最薄检出限低至0.005μm，满足纳米级薄膜分析需求。
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昆山市玉山镇兴羽腾仪器经营部推出的化学镍膜厚测试设备，是一款基于X射线荧光光谱技术（XRF）研发的高精度无损检测仪器，专为电镀、化镀及热镀工艺中的镍镀层厚度分析设计。该设备通过微焦斑W靶X射线管发射高能射线，穿透镀层后激发特征荧光，探测器捕获荧光信号并解析能谱，结合多层薄膜基本参数法（MTFFP）模块，精准计算镀层厚度及元素组成。其检测范围覆盖铝至铀之间的元素，可同时分析5层及以上镀层结构，单层测量精度达±5%，最薄检出限低至0.0025微米，满足纳米级薄膜分析需求。
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苏州福佰特仪器科技有限公司推出的Thick800A电子元器件镀层测厚仪，是一款基于X射线荧光光谱（XRF）技术的高精度分析设备，专为金属镀层厚度及成分检测设计。其工作原理是通过高压X光管激发样品表面，使镀层元素产生特征荧光X射线，探测器捕获信号后经多变量非线性回归算法处理，实现多层镀层厚度与成分的定量分析。该技术无需物理接触样品，可穿透表面直接检测，避免了对精密元器件的损伤，同时支持微小区域（最小0.1mm）的精准测量。
2025年07月09日 ~ 11日 
2025年07月11日 ~ 13日 
2025年07月16日 ~ 18日 
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