上海有色金属分析检测设备

液相色谱仪 322     

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岛津Nexera LC-40系列液相色谱仪是基于近50年液相色谱技术经验的创新产品，深度融合人工智能和物联网技术，致力于提升实验室整体效率和智能化水平。

电涡流漆膜镀层厚度检测仪 115     

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上海亚多利检测设备有限公司推出的电涡流漆膜镀层厚度检测仪AH211，是一款基于高频电磁感应原理的非破坏性测量设备，专为金属基材表面非导电涂层（如漆膜、塑料、橡胶）及导电镀层（如铜、镍、锌）的厚度检测设计。

解放双手型超声波测厚仪 234     

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新一代信固2+，尾端配备OLED多功能显示屏，使得双手解放操作变得更为容易，是攀岩和绳索应用行业的测量首选。双模压塑TPE外壳，不但握感柔软，而且耐用，可有效防止内部电子器件因外力损坏。此新款外壳通过了极严格的美国军方所订定的MIL STD 810G测试标准，非常坚固可靠。

铜氧化膜电解测厚仪 117     

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上海善测仪器科技有限公司推出的铜氧化膜电解测厚仪CYH-1000，是一款基于库仑电量分析原理的高精度电解式测厚设备，专为铜基材表面氧化膜（如阳极氧化膜、化学氧化膜）的厚度测量设计。

一体式涂层测厚仪 117     

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上海亚多利检测设备有限公司推出的AH250一体式涂层测厚仪，是一款集成磁感应与涡流双原理的高精度便携式检测设备，专为金属基材表面单层或多层涂层、镀层的厚度测量设计。

图形显示涂层测厚仪 118     

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上海萨帛机电控制系统有限公司推出的MEGA-CHECK Profi图形显示涂层测厚仪，是一款集高精度测量与智能数据分析于一体的专业检测设备，采用先进的磁感应与涡流双原理技术，适配金属基材上非磁性涂层（如油漆、锌、铬、塑料）或非金属基材上导电涂层的厚度检测。

超声波金属厚度计 111     

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上海耀壮检测仪器设备有限公司推出的TM-8811超声波金属厚度计，是一款基于脉冲回波技术的便携式高精度测厚设备，专为金属材料厚度检测需求设计。

兰泰磁性金属涂层厚度仪 115     

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亚测（上海）仪器科技有限公司代理的兰泰CM-8820磁性金属涂层厚度仪，是一款基于磁感应原理的高精度无损检测设备，符合ISO 2178国际标准。

一体式涂层测厚仪 111     

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钧一检测技术（上海）有限公司代理的德国尼克斯QNix®4200/4500一体式涂层测厚仪，是一款基于磁感应与涡流双原理的高精度无损检测设备。

金属镀层膜厚测试仪 112     

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合测实业（上海）有限公司代理的德国EPK MiniTest 2500金属镀层膜厚测试仪，是一款基于磁感应与涡流双原理的高精度无损检测设备。

实用型涂层测厚仪 114     

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上海首荣工业设备有限公司推出的实用型涂层测厚仪CM-8826，是一款集磁感应与涡流双测量原理于一体的便携式检测设备，专为工业现场涂层厚度快速测量设计。

高精度电子布氏硬度计 132     

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上海高致精密仪器有限公司推出的HBE-3000A电子布氏硬度计是一款专为金属材料硬度检测设计的高精度台式设备，符合GB/T231.2国家标准及JJG150检定规程。

便携式超声波硬度计 138     

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亚测(上海)仪器科技有限公司推出的KT-C便携式超声波硬度计是一款集多模式测量与高精度检测于一体的多功能硬度检测设备。

一体式硬度计 141     

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AH188一体式硬度计是上海亚多利检测设备有限公司自主研发的便携式硬度检测设备，专为金属材料现场硬度测试设计。

渗碳电镀层氮化层显微硬度仪 135     

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YZHV-1000B显微硬度仪是上海奕纵精密仪器有限公司专为材料表面处理层硬度检测研发的高精度设备，适用于渗碳层、电镀层、氮化层等微小区域的硬度分析。

手持光谱分析器 132     

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优诺德检测(上海)有限公司的手持光谱分析器，是一款基于X射线荧光（XRF）光谱分析技术的高性能便携式检测设备。

双光束反射分光光度计 130     

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上海韵鼎国际贸易有限公司引进的MiniScan® EZ双光束反射分光光度计，是一款在色彩测量领域表现出色的专业设备。

移动式火花直读光谱仪 134     

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上海统彩精密仪器有限公司的移动式火花直读光谱仪，是一款专为现场金属元素快速分析打造的高性能设备。

手持式光谱仪 137     

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上海统彩精密仪器有限公司推出的手持式光谱仪，是一款融合先进科技与便捷设计的元素分析利器。

便携式光谱元素分析仪 146     

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上海统彩精密仪器有限公司推出的便携式光谱元素分析仪，是一款集高效、精准、便捷于一体的先进检测设备。

台式直读光谱仪 140     

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上海统彩精密仪器有限公司代理的台式直读光谱仪采用原子发射光谱分析技术，通过内置校正曲线直接计算并显示元素百分比浓度，实现“一键式”快速定量分析，极大提升检测效率。

X射线光谱仪 134     

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上海统彩精密仪器有限公司代理的X射线光谱仪（以SPECTRO系列为例）是一款基于X射线荧光光谱技术的分析设备。

探针式轮廓仪 262     

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Tencor P-7探针式轮廓仪为生产和研发(R&D)环节提供了从几纳米到一毫米的台阶高度测量功能。该系统支持对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行二维(2D)和三维(3D)测量，扫描范围可达150毫米，无需拼接。

表面缺陷检测系统 261     

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Candela 8420是一种表面缺陷检测系统，它使用多通道检测和基于规则的缺陷分类，对不透明、半透明和透明晶圆(如砷化镓、磷化铟、钽酸锂、铌酸锂、玻璃、蓝宝石和其他化合物半导体材料)提供微粒和划痕检测。 8420表面缺陷检测系统采用了专有的OSA（光学表面分析仪）架构，可以同时测量散射强度、形貌变化、表面反射率和相位变化，从而对各种关键缺陷进行自动检测与分类。只需几分钟即可完成全晶圆检测，并生成高分辨率图像和自动化检测报告，同时附带缺陷分类和晶圆图。

表面缺陷检测系统 261     

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Candela 8720先进的集成式表面和光致发光(PL)缺陷检测系统可以捕获各种关键衬底和外延缺陷。采用统计制程控制(SPC)的方法来进行自动晶圆检测，可显著降低由外延缺陷导致的良率损失，最大限度地减少金属有机化学气相沉积(MOCVD)反应器的工艺偏差，并增加MOCVD反应器的正常运行时间。

缺陷检测和分类系统 256     

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Candela 7100系列为硬盘驱动器基板和介质提供了高级缺陷检测和分类功能。7100系列硬盘驱动器缺陷检测和分类系统以经过生产验证的Candela产品系列为基础，可帮助制造商对关键的亚微米缺陷进行检测和分类，如微凹坑、凸起、微粒以及被埋入的缺陷，从而最大限度地提高良率并降低总检测成本。

表面缺陷检测系统 264     

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Candela 8520第二代集成式光致发光和表面检测系统，设计用于对碳化硅和氮化镓衬底上的外延缺陷进行高级表征。采用统计制程控制(SPC)的方法来进行自动晶圆检测，可显著降低由外延缺陷导致的良率损失，最大限度地减少金属有机化学气相沉积(MOCVD)反应器的工艺偏差，并增加MOCVD反应器的正常运行时间。

纳米压痕仪 372     

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iMicro纳米压痕仪可轻松测量硬质涂层、薄膜和小尺寸材料等。其准确、灵活，并且用户友好，可以提供压痕、硬度测试、划痕和纳米级万能试验等多种纳米力学测试。作动器易于更换，能够提供大范围的动态载荷和位移，对于从软质聚合物到硬质金属/陶瓷等材料，均可以进行准确而可重复的测试。模块化的功能选项可以适配各种应用：材料力学特性图谱、频率相关特性测试、划痕和磨损测试以及高温测试。iMicro提供一整套的扩展功能选项，包括样品加热、连续刚度测量、NanoBlitz3D/4D材料力学性能成像、Gemini 2D作动器用于摩擦学和其它双轴力学测量。

微纳拉伸试验机 260     

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T150 UTM 微纳拉伸试验机可以测量对应变速率敏感的材料的时变响应。它采用电磁作动器产生拉力（样品上的载荷），并采用高精度的电容传感器测量位移，从而在大范围的应变下确保高灵敏度。T150 UTM还可提供动态测量模式，用以研究生物材料的拉伸/压缩特性，该模式在拉伸/压缩过程中的每个状态均可实现样品刚度等的精确测量。

光学轮廓仪 357     

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Profilm3D®和 Profilm3D-200 光学轮廓仪经济实惠，是一套非接触式基于白光干涉法的3D表面形貌测量系统。最新一代的白光干涉仪拥有新的成像模式，性能和价值得到了大幅提升。Profilm3D 系列通过简单、灵活的程式设置测量纳米级至毫米级表面，可进行单次扫描或在多个点位自动测量，来支持研发和生产环境。