光学轮廓仪/白光干涉仪/Zeta-300 Optical ProfilerZeta-300支持3D量测和成像的功能,并提供整合隔离工作台和灵活的配置,可用于处理更大的样品。该系统采用ZDot™技术,可同时采集高分辨率3D数据和True Color(真彩)无限远焦点图像。Zeta-300具备Multi-Mode(多模式)光学系统、简单易用的软件、以及低拥有成本,适用于研发及生产环境。产品描述Zeta
离心萃取机的工作过程主要包括混合传质与两相分离。混合传质:轻重两相溶液按一定比例分别从两个进料管进入转鼓和壳体 之间的混合区,使两相快速混合分散,两相溶液得到充分的传质,完成混合 传质过程。两相分离:混合液在涡流盘或进料器的作用下进入转鼓,在腹板形成的 隔舱区内,混合液很快与转鼓同步回转,在离心力的作用下,比重大的重相 液在向上流动过程中逐步远离转鼓中心而靠向转鼓壁;比重小的轻相液体逐 步远离转鼓壁而靠向中心,澄清后的两相液体最终分别通过各自堰板进入收 集室病由引管分别引出机外,完成两相分离过程。
GT-sIP 频谱激电仪是武汉捷探科技有限公司独立研制的新型频谱激电探测系统。该系 统可发射多频段伪随机电磁信号,采用多测道轴向偶极-偶极装置接收,利用频率域相关辨 识法提取地下介质的频率域激电响应,并基于 core-core 模型反演,获取地下介质的激电特征。 该系统与常规电法设备相比具有横纵向分辨率高、抗干扰能力强、信息量更丰富、解释 更准确等特点; 与国外同类型产品相比具有装备轻便、工作高效、成本低廉等特点。
iMicro纳米压痕仪可轻松测量硬涂层,薄膜和少量材料。该仪器准确、灵活,并且用户友好,可以提供压痕、硬度、划痕和通用纳米级测试等多种纳米级机械测试。 可互换的驱动器能够提供大动态范围的力荷载和位移,使研究人员能够对软聚合物到硬质金属和陶瓷等材料做出精确及可重复的测试。模块化选项适用于各种应用:材料性质分布、特定频率测试、刮擦和磨损测试以及高温测试。 iMicro拥有一整套测试扩展的选项,包括样品加热、连续刚度测量、NanoBlitz3D / 4D性质分布,以及Gemini 2D力荷载传感器,可以提供摩擦和其他双轴测量。
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