本发明公开了一种用于TEM分析的地质薄片样品的制备方法,包括以下步骤:准备薄片;选取分析区;固定薄片;钻取分析区;获取离子减薄的薄片样品和离子减薄处理。常规的用于TEM分析的地质薄片用玻璃切割刀进行分割,不仅影响地质薄片其他区域的再次利用,而且因矿物岩石之间硬度差别较大,TEM样品制备的成功率较低,本发明首次以钻取的方式制备选定的样品区域,提高了地质薄片的TEM样品制备的成功率。
声明:
“用于TEM分析的地质薄片样品的制备方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)