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γ背散射成像无损检测方法与装置

1050   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:57:56
本发明属于核技术应用领域,该方法是将检测单元设置在被检客体的同一侧;由射线源射出的γ射线束周期性地扫描客体;由探测器同步测量客体被γ射线束照射时各部位产生的背散射,并将测得信号按时序排列、转换为被检客体的二维的背散射数字图像;该装置包括辐射防护屏蔽装置及设置在其内的γ射线源、探测器与信号采集与处理单元,γ射线源及其辐射防护屏蔽装置、探测器为由一个或多个器件组成背散射探测器。本发明具有使被检客体内有机物的影像自动“加亮”的功能,且体积小,并解决了空间分辨率与探测器灵敏度的矛盾。
声明:
“γ背散射成像无损检测方法与装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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