本发明公开一种用X射线荧光光谱法测铁精矿中全铁含量的方法,包括以下步骤:抽取铁精矿样品,将铁精矿样品研磨后过200目筛,收集粒径为≤74μm的粉末,在100‑110℃下干燥0.5‑1.5小时,然后在25‑35T压力下保持15‑25s,制成待测量样片,然后置于X‑射线荧光光谱仪中进行检测,检测条件为:X光管电压20‑30kv、管电流40‑60mA。本发明具有先进性、适用性、可推广性,分析时间短、效率高、准确度高、重复性好、无污染。
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