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基于MCU的高耐压双隔离CAN收发器测试电路技术装置

756   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 00:29:14
本发明公开了一种基于MCU的高耐压双隔离CAN收发器测试电路技术装置,属于测试电路技术领域,它包括数据信号处理与检测装置、FR4基板,所述数据信号处理与检测装置包括信号处理芯片、通用MCU、双路CAN收发器、USB通信接口芯片、SD卡存储芯片、LCD显示屏幕、4.2V通用锂电池、配置电路芯片,所述通用MCU、双路CAN收发器、USB通信接口芯片、SD卡存储芯片、LCD显示屏幕和配置电路芯片连接于FR4基板的上表面上,所述通用MCU与双路CAN收发器之间采用双隔离的方式布设。本发明提高了测试的可靠性和易实现性,具有良好的实用价值。
声明:
“基于MCU的高耐压双隔离CAN收发器测试电路技术装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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