本发明公开了一种利用X射线荧光熔片法快速测定轻烧镁球中的氧化镁含量的方法,所述方法包括:荧光样片的制备:将轻烧镁球和四硼酸锂助熔剂混合后进行熔样,得到荧光样片;利用X射线荧光光谱仪对荧光样片进行Mg元素分析,测试荧光样片中Mg的强度和含量。解决了传统的标准方法操作步骤比较繁琐,分析时间长,且方法需使用硝酸铵试剂等危险试剂,对分析者操作技能较高的问题。
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