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硅质聚渣剂的X荧光光谱分析法

779   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 00:17:45
本发明提供一种硅质聚渣剂的X荧光光谱分析法,采用四硼酸锂试剂作熔剂,在高温下将试样熔融成玻璃样片,然后利用X荧光光谱仪绘制的国家标准样品曲线分析其待测元素强度,从而计算出待测元素的百分含量。与化学分析方法相比,本发明方法程序简化,手续简单,试剂种类少,可降低检测费用,净化空气质量,且标准曲线一次绘制完成后可多次使用;可缩短测定时间,每批试样可节省分析时间3小时,极大提高分析效率;以仪器代替手工分析,可减少分析误差,提高分析准确率,且干扰因素少,机体影响较小,稳定性好。
声明:
“硅质聚渣剂的X荧光光谱分析法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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