本发明涉及一种用于X射线荧光分析法测量硅锰合金中锰硅磷含量的试样的制备方法。包括一次配料、预氧化、二次配料、熔融,一次配料是用滤纸及混合氧化剂包裹锰硅合金试样,将试料包裹成球状;预氧化是将坩埚内填满石墨并将球状试料放入石墨凹坑中,然后在高温马弗炉内氧化成椭球状试料;二次配料是在铂金器皿铺碘化铵脱模剂,放置冷却好的椭球状试料,用四硼酸锂和偏硼酸混合熔剂覆盖椭球状试料;熔融是将铂金器皿放入熔片机内,在1000℃~1050℃温度状态下熔融15~25min得到熔片即为试样,可直接用于X射线光谱分析仪进行分析。本发明可多样同时制作且过程可控性简单,试验耗时短,制作成本低,X射线荧光分析结果准确度高。
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