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用于SLED光源的谱宽测量装置及方法

889   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-18 23:59:39
本发明公开了一种用于SLED光源的谱宽测量装置及方法,装置包括待测量SLED光源、第一光电探测器、第二光电探测器、第三光电探测器、光纤环形器、3×3光纤耦合器、光功率在线测量计、第一2×2光纤耦合器、第二2×2光纤耦合器、光纤铌酸锂相位调制器、第一法拉第旋转反射镜、延迟光纤线、第二法拉第旋转反射镜和数据终端,用于测量SLED光源谱宽的光路途径至少为两条,且存在两条两束光路发生干涉。本发明的用于SLED光源的谱宽测量装置及方法,能快速精确测量SLED光源的谱宽,成本低廉,使用方便,具有良好的应用前景。
声明:
“用于SLED光源的谱宽测量装置及方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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