本实用新型公开了一种用于X射线荧光光谱分析的织物样片,包括偏硼酸锂空白熔片,熔片上通过树脂层复合有标准贴衬织物层。本实用新型结构合理,由偏硼酸锂熔片做衬底,通过树脂层将标准贴衬织物或定量滤纸复合在熔片上。检测液体样品时,与样品杯相比,采用织物样片所需样品量较少并可以在真空条件下检测。利用织物样片建立的工作曲线可用来检测相应织物样品,具有线性好,相关系数高的特点。
声明:
“用于X射线荧光光谱分析的织物样片” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)