本发明公开的Li掺杂生长p型ZnO晶体薄膜的 方法采用的是磁控溅射法,将衬底清洗后放入直流反应磁控溅 射装置反应室中,反应室抽真空,以锌锂合金为靶材,以 O2和Ar作为溅射气氛,在3~ 5Pa压强下,于400~600℃下进行溅射生长,生长结束后薄膜 在Ar气氛下退火。本发明方法简单,p型掺杂浓度可以通过调 节靶材中Li的含量和生长气氛中 O2∶Ar的不同分压比来控制; 在ZnO晶体薄膜生长过程中可以实现受主Li的实时掺杂;由 于掺杂元素来自靶材,因此可以实现高浓度掺杂;本发明与V 族元素掺杂相比,以金属Li离子替代掺杂具有更浅的受主能 级,制得的p-ZnO薄膜具有良好的电学性能,重复性和稳定 性。
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