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通过X射线荧光光谱法测定玻璃中杂质的方法

1010   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-18 23:15:13
本发明涉及一种通过X射线荧光光谱法测定玻璃中杂质的方法,包括以下步骤:1)取玻璃纤维标准品和待测玻璃纤维,再将所述玻璃纤维标准品、待测玻璃纤维分别先用混合溶剂混合搅拌均匀后,再滴加碘化氨,得到混合物,然后于10分钟内升温至1100~1300℃,再于1100~1300℃将所述混合物熔融15~25分钟成标准玻璃样片和待测玻璃样片,所述混合溶剂为四硼酸锂和偏硼酸锂的混合溶剂,所述四硼酸锂和偏硼酸锂的质量比为35:65;2)再将所述标准玻璃样片和待检测玻璃样片通过X射线荧光光谱仪进行检测,并根据强度与含量确定线性关系,制作校准曲线,得到玻璃中杂质的含量。本发明的方法的检测灵敏度高,重复性强。
声明:
“通过X射线荧光光谱法测定玻璃中杂质的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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