本发明公开了一种用于红外焦平面器件的铁电单晶薄膜制备方法。其方法是将硅基衬底上的钽酸锂(LiTaO
3)单晶薄膜剥离下来转移到特定的衬底上,保留单晶体材料的热释电性能,关键技术包括腐蚀硅基衬底的工艺条件、自支撑薄膜转移、电极制备与性能测试。首先,利用把硅基钽酸锂薄膜放置于腐蚀液中,在一定的温度下反应一段时间,然后转移到酒精中进行二次转移操作,使其在特定衬底上形成自支撑薄膜。然后,利用电子束蒸发制备上下电极,用自制的热释电系数测试系统测量单晶薄膜的热释电系数。该技术可以获得大面积、均匀的自支撑钽酸锂单晶薄膜,可用于制备高灵敏的非制冷红外焦平面器件。
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