一种X荧光光谱法测定铁矿石的检测试剂及方法,属于炼钢工业领域。本发明的目的是通过对内标钴粉和玻璃熔片的成分重新设定,从而解决现有玻片存在的不足的X荧光光谱法测定铁矿石的检测试剂及方法。本发明首次用四硼酸锂-偏硼酸锂、三氧化二钴、硝酸锂、溴化锂制备内标钴粉;再用无水四硼酸锂-偏硼酸锂混合熔剂、试样、内标钴粉、硝酸锂、溴化锂制备玻璃熔片。本发明减少熔剂用量,降低检测成本。延长铂黄坩埚的使用时间,进一步降低检测成本。提高分析结果的准确度。
声明:
“X荧光光谱法测定铁矿石的检测试剂及方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)