本实用新型属于一种多节锂电检测电路,MCU处理器的PA0脚通过电阻R10连接MOS管Q2、Q4、Q6的栅极,MCU处理器的PA1脚通过电阻R11连接MOS管Q3、Q5、Q7的栅极,MOS管Q2‑Q7的漏极分别连接电阻电阻R4‑R9,MOS管Q2、Q3的源极均连接电容C6、R12相并联的电路一端,MOS管Q4、Q5的源极均连接电容C7、R13相并联的电路一端,MOS管Q6、Q7的源极均连接电容C8、R14相并联的电路一端。本实用新型通过对采样电池电压点进行分组,根据电容充电电路的不同充电时间来区分每组电池电压采样点,实现MCU少数采样点就可以实现多数电池电压采样的目的。
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