本实用新型涉及一种软包
锂电池封装失效原因的分析装置,该装置包括光源及锥形机构;所述锥形机构的构成分为内、外两层,内层为反光层,外层为吸光层;所述锥形机构的大口端与光源连接,小口端对准待测的ALF
铝塑膜照射,查找透光部位。该装置由于光源通过锥形机构内部,从锥形机构的小口端发出,光线被锥形机构内的反光层反射后从小口端射出,光线被大大聚焦,从而降低散射光对观察者的干扰。该装置是利用新型的微孔检查照明装置,大大降低发散光对微孔检查的干扰。本实用新型设计合理,结构简单,成本低、效益高,有效提高检测软包锂电池制作质量的效率,应用效果非常显著。
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“软包锂电池封装失效原因的分析装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
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