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判别铌酸锂晶体X轴正负向的方法

636   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-18 22:02:41
本发明提供了一种判别铌酸锂晶体X轴正负向的方法,步骤如下:(1)首先利用压电法标定出待测铌酸锂晶体Z轴的正负,然后对Z面进行粗略抛光;(2)将待测铌酸锂晶体置于锥光干涉光路中,待测铌酸锂晶体的X轴和Y轴分别沿水平和竖直方向,使激光沿晶体Z轴正向或负向入射;(3)在晶体X轴方向施加直流电压,沿着光的传播方向观察光屏上的锥光干涉图样,根据椭圆干涉环长轴所在象限判断X轴正负向。本发明基于晶体的电光效应,利用加电后的锥光干涉图样对铌酸锂晶体X轴正负向进行检测,测试过程不会损伤晶体,可以在器件制备完成后进一步应用前再进行检测,无需在加工过程中做标记,有利于提高加工效率。
声明:
“判别铌酸锂晶体X轴正负向的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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