本发明提供了一种判别铌酸锂晶体X轴正负向的方法,步骤如下:(1)首先利用压电法标定出待测铌酸锂晶体Z轴的正负,然后对Z面进行粗略抛光;(2)将待测铌酸锂晶体置于锥光干涉光路中,待测铌酸锂晶体的X轴和Y轴分别沿水平和竖直方向,使激光沿晶体Z轴正向或负向入射;(3)在晶体X轴方向施加直流电压,沿着光的传播方向观察光屏上的锥光干涉图样,根据椭圆干涉环长轴所在象限判断X轴正负向。本发明基于晶体的电光效应,利用加电后的锥光干涉图样对铌酸锂晶体X轴正负向进行检测,测试过程不会损伤晶体,可以在器件制备完成后进一步应用前再进行检测,无需在加工过程中做标记,有利于提高加工效率。
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