本发明一种宇航用
锂电池管理
芯片可靠性验证方法,步骤如下:步骤一、设计评价指标体系,对宇航用锂电池管理芯片可靠性关键参数进行分析;步骤二、根据评价指标体系设计评价验证试验项目;步骤三、开展结构分析工作;步骤四、开展电特性一致性分析;步骤五、开展极限性能评估;步骤六、开展抗辐射性能评估;步骤七、开展电特性适应性验证;步骤八、开展力学环境和热学环境适应性验证。本发明为获取元器件的应用特性数据,并降低锂离子蓄电池管理芯片在航天器应用电路内的风险,可有效对宇航用锂电池管理芯片开展相关可靠性验证,以评估其宇航应用适应性。
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我是此专利(论文)的发明人(作者)