本发明提供一种判定锂二次电池中的低电压缺陷的方法,该方法包括:测量完成化成工艺的锂二次电池的一次电压;运送锂二次电池;测量锂二次电池在运送过程中的暴露温度;测量完成运送的锂二次电池的二次电压;基于锂二次电池的暴露温度,修正二次电压以计算修正的二次电压;以及比较一次电压和修正的二次电压以判定锂二次电池是否有缺陷。
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