本发明涉及集成光学器件的性能测试领域,具体指的是一种基于FPGA的快速测试铌酸锂光学调制器的半波电压测试方法。该方法用四态调制方式来快速跟踪铌酸锂光学调制器半波电压的变化,可以测试铌酸锂光学调制器在整个温度变化范围内的半波电压值并记录相对应的温度变化曲线,其优点是:瞬间内找到精确的半波电压值,其精度达到10-3以上,并能实时记录温度变化曲线与之对应。
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