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判断金属氧化物在锂钴氧化物表面分散与聚集状态的方法

929   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-18 21:01:37
一种判断金属氧化物在锂钴氧化物表面分散与聚集状态的方法,采用X射线光电子能谱仪进行分析,激发源为单色的Al的X射线,分析直径为φ800μm,不用电子中和枪对元素结合能进行荷电效应校正,得到钴和锂钴氧化物表面的金属元素特征峰的半峰高宽FWHM,根据得到半峰高宽FWHM判断金属氧化物在锂钴氧化物表面分散与聚集状态。本发明采用统计分析,可以快速、准确地判断金属氧化物在锂钴氧化物表面的分散与聚集状态。
声明:
“判断金属氧化物在锂钴氧化物表面分散与聚集状态的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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