本申请涉及用于电导率评估的磁耦合,本申请公开一种方法,该方法包括建立在发射线圈和接收线圈之间的被测的
复合材料结构(SUT)。发射线圈由在多个频率上的RF信号来驱动,从而使发射线圈产生磁场,该磁场通过穿过SUT磁耦合在接收线圈中感应电压。接收线圈上的电压被测量,并且根据该电压产生由发射线圈和接收线圈之间的SUT引起的RF信号的衰减的测量值。而且SUT的有效导电率根据衰减的测量值被计算。
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