本发明公开了一种基于光热辐射测量的材料内应力测量系统及方法,所述测量系统包括光纤、手动拉伸机、检测样件、小离轴抛物镜架、小离轴抛物镜、准直镜、聚焦镜、第一偏振片、大离轴抛物镜、大离轴抛物镜架、滤波片、第二偏振片、红外探测器、第一BNC数据线、计算机、NI数据线、锁相放大器、第二BNC数据线、激光器电源、激光器电源线、激光器。本发明利用材料在外加调制热载荷作用下,依靠材料内部应力与热波信号存在的联系进行材料内应力测量,适用于各类型材料(金属材料、
复合材料、无机非金属材料及合成材料)的内部应力测试。
声明:
“基于光热辐射测量的材料内部应力测量系统与方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)