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光学干涉谱域相位对照B扫描仪及其测量方法

1035   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-18 16:52:15
本发明公开了一种光学干涉谱域相位对照B扫描仪及其测量方法,主要用于透视测量复合材料构件内部的离面位移分布。该扫描仪基于光学干涉原理,利用宽带光源的空间调制,在CCD相机的像平面上,将被测复合材料构件内部切面的干涉光谱展开,从光谱的相频特性中计算出复合材料构件内部切面的离面位移分布。该扫描仪可以对透明和光学浑浊复合材料构件进行透视测量,特点是轴向轮廓和离面位移的测量分辨率高,测量速度快,适用于复合材料构件力学特性研究及其微小缺陷检测辨识。
声明:
“光学干涉谱域相位对照B扫描仪及其测量方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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