本发明公开了一种高分子
复合材料界面层间邻近度的测试方法,具体为基于荧光共振能量转移技术表征高分子复合材料界面层间高分子链与金属、无机基底之间相对距离的方法。本发明将荧光供体和荧光受体分子分别接枝到高分子复合材料的高分子链上和基底表面,采用表面反射的方式采集不同工艺处理后复合材料的荧光光谱,通过比较荧光光谱中荧光受体和供体特征峰的强度比值大小,获得界面层间高分子链与基底之间邻近度,根据邻近度的变化可判断不同工艺处理的复合材料界面结合力的强弱。
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