有色金属分析检测技术理论与应用

基于路径分类与估计的产品寿命预测方法及装置 1045     

 0

本发明公开一种基于路径分类与估计的产品寿命预测方法及装置，该方法步骤包括：S1.分别获取待测产品、多个失效参考样本的性能退化数据，由待测产品的性能退化数据得到目标路径，以及由各失效参考样本的性能退化数据得到多条参考路径；S2.分别计算各条参考路径与目标路径之间的相似度，并使用得到的各条所述参考路径与目标路径之间的相似度以及各个失效参考样本的剩余寿命估计得到待测产品的剩余寿命；该装置包括路径获取模块以及寿命预测模块。本发明具有实现方法简单、所需成本低、可实现产品剩余寿命的动态预测，且预测精度高以及无需知晓产品失效阈值等优点。

基于集射极饱和压降与焊料层空洞率的IGBT健康状态监测方法 994     

 0

本发明属于电力电子器件与装置可靠性技术领域，具体涉及一种基于集射极饱和压降与焊料层空洞率的IGBT健康状态监测方法。安装调试完毕后，投入使用之前，在一定条件下测试IGBT器件的集射极饱和压降与焊料层空洞率并标记初始值；器件投入使用后，定期测试IGBT器件的集射极饱和压降和焊料层空洞率并记录测量值；将测量值与初始值进行比较，根据比较结果判断IGBT器件的集射极饱和压降与焊料层空洞率是否达到失效标准；当集射极饱和压降与焊料层空洞率未达到IGBT器件失效标准时测试值带入仿真模型中，计算出IGBT器件的疲劳老化进程与剩余寿命；当达到IGBT器件失效标准时，判定为器件失效并对IGBT器件进行更换。本发明直接用于IGBT器件的健康状态监测与可靠性评估。

基于实测数据的继电保护装置时变故障率计算方法 772     

 0

本发明公开了一种基于实测数据的继电保护装置时变故障率计算方法，包括：获取继电保护装置的历史失效数据，并根据预定的判断依据从历史失效数据中筛选出偶然失效数据与老化失效数据；对于偶然失效数据采用恒定失效率的估算方法估算偶然失效率λ0；对于老化失效数据，则采用数学期望公式为经验分布函数对老化失效数据进行分布计算，再对分布结算结果进行拟合计算，得到继电保护装置的失效概率分布函数，从而计算出老化失效率λ1(t)；根据偶然失效率λ0与老化失效率λ1(t)估算继电保护装置时变故障率。该方法可以应用于以场站对于保护装置的故障数据为基础的时变失效特新研究，使得故障率的计算更加符合实际情况，并根据计算结果可预测装置失效情况。

航空电缆剩余寿命预测方法 948     

 0

一种航空电缆剩余寿命预测方法，从电缆失效概率所服从的威布尔分布出发，首先建立电缆实际寿命与表征寿命的特征参数间的威布尔模型，在利用极大似然法估计威布尔参数初值的基础上，采用贝叶斯估计法得到威布尔模型，从而减小在小样本失效数据情况下对参数估计的影响；其次建立表征寿命的特征参数与环境应力间的寿命预测模型，将失效物理模型与支持向量机相结合，通过计算权重分配模型比重得到最终的电缆寿命预测模型。本发明将贝叶斯估计中威布尔形状参数分为常数和随应力变化的两种情况，更加全面的考虑了电缆寿命在实际预测的情况；同时采用对数线性形式来描述失效物理模型，预测电缆在单应力或多应力耦合情况下的剩余寿命。

半导体集成电路及其测试方法 943     

 0

本发明提供了一种半导体集成电路及其测试方法。编程电路在第一编程单元被编程时激活通过信号。当内部电路的测试通过时,第一编程单元被编程。通过外部控制,模式设置电路将运行模式转换为正常运行模式或者测试模式。当通过信号在正常运行模式期间被失活时,状态机允许内部电路的部分电路执行不同于正常操作的异常操作。通过在正常运行模式期间识别异常操作,可以容易地识别出半导体集成电路是坏的。由于无需转换到测试模式就可以识别失效,因此例如购买半导体集成电路的用户也可以容易地识别出失效。

功率电子爆炸原位监测方法及装置 589     

 0

本发明属于电子器件监测技术领域，公开了一种功率电子爆炸原位监测方法及装置。本发明通过故障激发模块激发功率电子器件发生爆炸失效，在功率电子器件爆炸失效前后及爆炸失效瞬间，通过电信号监测模块实时监测功率电子器件的电信号，通过气体监测模块实时监测功率电子器件所处试验腔体内部的气体信息，通过高速图像捕捉模块实时捕捉功率电子器件的外部画面，通过高速X射线成像模块实时捕捉功率电子器件的内部画面；通过时序控制模块按预定的时序和时间间隔触发装置中各模块进行工作；通过主控模块控制整个装置，并进行数据采集、存储和显示。本发明能够实现对功率电子器件爆炸失效过程的实时监测。

老炼电路的参数测量顺序确定方法和系统 810     

 0

本申请涉及老炼电路的电性能测试领域，提供了一种老炼电路的参数测量顺序确定方法和系统。该方法包括：在M个待测参数的种排序方式下，获取所述M个待测参数中，每个待测参数在测量顺序为1时的目标失效率，并将测量顺序为1时目标失效率最大的待测参数作为第1参数，其中，所述第1参数为目标顺序排第1的参数；获取除了所述第1参数至第i‑1参数以外的待测参数中，每个待测参数在测量顺序为i时的目标失效率，并将测量顺序为i时目标失效率最大的待测参数作为第i参数，其中，所述第i参数为目标顺序排第i的参数，i依次取值：。通过上述方法，可以有效解决老炼电路的参数测量时间长、效率低的问题。

涂层加速寿命激光热冲击试验原位测试设备 632     

 0

本发明公开了一种加速寿命激光热冲击原位测试设备，该测试设备包括激光发生器及控制系统、冷却系统、测温系统、原位观测系统、试样夹具等，结合了增材制造类涂层的高温热冲击性能测试技术、涂层裂纹、涂层剥落及失效过程的原位观测技术和加速寿命测试技术三个领域的优点，能够还原各类涂层在高温环境下裂纹的萌生、扩展、竞争生长以及失效方式和失效过程，预测涂层的高温热冲击寿命。本发明采用光纤激光发生器作为热源，热源功率稳定，易量化，升温快，升温范围大；原位观测系统能够实时观测记录涂层截面裂纹的萌生、扩展、涂层的剥落以及涂层的失效过程和方式；加速寿命测试可以预测不同温度下的涂层寿命，利于建立不同温度下的寿命预测模型。

流表项规模的预测方法及装置 907     

 0

本发明公开了一种流表项规模的预测方法，包括：获取当前tn时刻交换机的流表的平均流表项规模；确定当前tn时刻所述流表中流表项的平均失效速率以及流表项的增加速率的估计值；依据所述当前tn时刻的平均流表项规模、所述流表项的平均失效速率及所述流表项的增加速率的估计值，对下一时刻tn+1时的流表项规模进行预测。本发明还同时公开了一种流表项规模的预测装置。

修复web自动化测试脚本的方法及系统 818     

 0

本发明公开了一种修复web自动化测试脚本的方法及系统，方法包括S1，对比旧版与新版web页面的DOM，形成网页差异DOM；S2，根据网页差异DOM，提取失效脚本；S3，判断失效脚本是否可以修复，提取可修复的脚本；S4，对可修复的脚本进行修复，生成新的测试脚本集。系统包括网页差异DOM生成模块，用于对比旧版与新版web页面的DOM，形成网页差异DOM；失效脚本获取模块，用于根据所述网页差异DOM，提取失效脚本；可修复脚本获取模块，用于判断失效脚本是否可以修复，并提取可修复的脚本；脚本修复模块，用于对可修复的脚本进行修复，并生成新的测试脚本集。本发明能够对web自动化测试脚本进行自动修复，节省人力和时间成本，提高效率。

草地剪切力原位测试方法及装置 819     

 0

本发明属于草地生态改良领域，具体涉及一种针对草地土壤-根系复合体结构的剪切力原位测试方法及装置。根据测定深度需求，将执行剪切装置从草地表面强制垂直贯入到待测深度的土层中；贯入到待测深度后，驱动执行剪切装置周向旋转，使得该深度内的土壤-根系复合体结构在与执行剪切装置相互作用的作用面上发生剪切失效，直至土壤-根系复合体结构破坏，通过测定使土壤-根系复合体结构发生剪切失效至破坏时所需的有效扭矩峰值来推算草地待测深度土层自然条件下的抗剪强度及剪切特性的相关参数。本发明适应性强，能直接获取数据，操作灵活，解决传统人工取样后在室内进行原状土测试造成的数据偏差，以及因草地土壤坚实度高而带来的取样费力的问题。

多芯片组件的可靠性预测方法 579     

 0

一种多芯片组件的可靠性预测方法，包括步骤：获取基板失效率λ基板、外贴元器件失效率λ外贴元器件、互连失效率λ互连、封装失效率λ封装及组装系数π组装、设计系数π设计、质量控制系数π质量控制、环境系数π环境；根据基板失效率λ基板、外贴元器件失效率λ外贴元器件、互连失效率λ互连、封装失效率λ封装及组装系数π组装、设计系数π设计、质量控制系数π质量控制、环境系数π环境确定多芯片组件的可靠性预计失效率λP。本发明结合多芯片组件MCM的特点，综合考虑基板、外贴元器件、互连、封装的失效率，及组装、实际、质量控制及环境的系数，根据这些失效率和系数综合确定多芯片组件的可靠性预计失效率，实现对多芯片组件可靠性的准确预测。

圆拱网架建筑结构安全监测方法 693     

 0

本发明公开了一种圆拱网架建筑结构安全监测方法,涉及一种圆拱网架结构的安全监测,具体地说,涉及结构的力学特性、失效模式、计算仿真、监测策略、信息采集与处理、安全诊断等。本发明是以网架第二层节点作为位移监测的特征节点;利用有限元方法计算出特征节点的允许极限数据系列,并绘制出相应的位移曲线图和位移差曲线图;在特征节点上安装位移传感器,连续监测特征节点的三维空间位移,进而判断网架的整体变形。在网架变形达到危险极限时,提前预报,防止圆拱网架建筑倒塌。采用本发明,可以对圆拱网架建筑结构方便地实施长期、连续、可靠的安全监测,在网架失效或倒塌前发现隐患,避免恶性事故的出现。

基于门控递归单元神经网络的电子器件剩余寿命预测方法 935     

 0

本发明公开了一种基于门控递归单元神经网络的电子器件剩余寿命预测方法，包括：获得电子器件在相同条件下的多组老化数据；对多组老化数据进行预处理；根据预处理后的老化数据以及电子器件失效机理获得失效变量；根据预处理后的老化数据建立门控递归单元神经网络老化模型；根据门控递归单元神经网络老化模型获得失效变量的预测变化值，结合设定的失效阈值，获得电子器件的剩余寿命。本发明提供的电子器件剩余寿命预测方法，通过构建门控递归单元神经网络老化模型预测电子器件的剩余寿命，综合考量了老化数据中各失效变量对电子器件剩余寿命的影响而进行预测，同时考虑到老化数据的时序特征，充分挖掘了老化数据中的信息，预测精度高，可靠性强。

化工管廊事故多米诺效应预测方法 640     

 0

本发明公开了一种化工管廊事故多米诺效应预测方法，旨在提供一种判断管廊管道在火灾环境下发生事故多米诺效应的方法。火灾作用下管道失效时的最低温度，达到失效最低温度所需时间的预测方法，其技术方案要点是建立管廊管道失效时间与火灾场景的数学物理模型，实现管廊管道在喷射火、池火及流淌火等事故场景下失效时间与火灾场景的关系，从而建立各类火灾场景下管廊管道事故多米诺定量预测模型。实现管廊管道在火灾事故场景下失效时间及管廊管道事故多米诺发展进展进程的科学准确预测。本发明适用于化工管廊事故预测。

补偿变流器可靠性在线监测方法 874     

 0

本发明涉及补偿变流器可靠性在线监测方法，首先读入补偿变流器及组成元件的相关参数，利用温度传感器测量IGBT内某一参考点的温度；利用修正函数修正测量温度数据，计算IGBT结温；采用雨流算法处理结温数据，获取热循环及对应的平均结温均值和波动值；应用元件寿命预测模型和线性损伤累计模型，计算IGBT模块失效率；基于元件可靠性评估参数计算直流支撑电容、串联电抗器和控制底板的失效率；建立可靠性评估模型，根据元件失效率，计算相关可靠性指标，进行可靠性实时评估。本发明通过实时采集IGBT模块的结温信息，计算失效率，获取补偿变流器可靠性评估参数，实现补偿变流器的实时在线可靠性监测，为设备的安全运行及维护提供保证。

胎压监测方法及系统 896     

 0

本发明公开了一种胎压监测方法及系统，包括接收到启动信号后，获取胎压监测传感器失效的累计次数；如果累计次数大于预设数值，向报警装置输出失效报警使能信号直至接收到胎压信息为止，且在接收到胎压信息后，将累计次数清零并锁存；如果累计次数小于或者等于预设数值，则释放对累计次数的锁存，及在车速大于预设车速限值期间，如果持续第二预设时间未接收到胎压信息，将累计次数加1并锁存。本发明增设了上述失效辅助报警部分，其对失效进行累计的条件相对触发丢失报警的条件更容易满足，只要累计次数超过预设数值，便可在下一次启动后立刻进行失效报警提示，以使车身控制器在监测到胎压监测传感器丢失后可正确触发报警。

预估红外探测器真空筛选试验合格率的方法 649     

 0

本发明公开了一种预估红外探测器真空筛选试验合格率的方法，包括：对样本数据进行采集，整理得到特征量；根据整理得到的特征量，建立Logistic回归模型；采样交叉验证法，对Logistic回归模型进行训练，得到训练后的Logistic回归模型；根据训练后的Logistic回归模型，对待预测红外探测器进行失效预测；根据待预测红外探测器的失效预测的结果，对预测结果为合格的待预测红外探测器，按照失效预测概率进行排序，并输出结果。通过本发明能够在试验前对探测器合格情况进行预测，优先选择性能较好且稳定的子样进行试验，避免失效率高的器件混入正样，提高了筛选的有效性、降低了成本。

电子产品的温压双应力小样本加速试验寿命预测方法 764     

 0

本发明提供一种电子产品的温压双应力小样本加速试验寿命预测方法，其包括以下步骤：1、获取失效数据并进行排序，确定失效数据所满足的指数分布；2、计算并重新整理每个应力水平下的等效指数失效时间数据并进行排序；3、列出选定的信度水平并计算分位值；4、获得选定信度水平下的应力‑失效时间函数；5、获得选定应力水平下的对数失效时间分位值；6、得到参数的最小二乘估计值，确定选定应力水平下的失效时间分布。本发明基于不确定理论通过矩模型实现指数分布参数估计，获取等效指数失效时间数据，通过扩大样本数量实现指数分布参数的修正，提高了小样本条件下失效时间预测的精确性与收敛度。

芯片测试方法、装置、设备及存储介质 1062     

 0

本公开提供一种芯片测试方法、装置、设备及存储介质，涉及芯片测试技术领域。该方法包括：分别按照多个测试模式中的各个测试模式对多个芯片进行测试，获得各个测试模式对应的测试参数，测试参数包括测试时间信息和失效芯片信息，测试时间信息包括测试时长，失效芯片信息包括测试得到的失效芯片的数量；对于各个测试模式，根据测试得到的失效芯片的数量和测试时长获得该测试模式的敏感度指标；基于各个测试模式的敏感度指标从多个测试模式中确定目标测试模式；对目标测试模式进行测试时长减少操作，获得更新的目标测试模式，以按照多个测试模式对多个芯片进行测试。该方法实现了在不影响测试效果的前提下缩短芯片系统级测试的时间。

预测包含多个部件的产品的预期寿命的方法和装置 792     

 0

本发明涉及用于对包括至少两个部件(K1、K2、K3、…KN)的产品的预期寿命进行预测的一种方法和一种装置(20)。所述预期寿命根据该产品的一个假定现场负荷(1、3)而被测定。对所述产品的部件(K1、K2、K3、…KN)加载不同的负荷(T、ΔT),并在不同的负荷(T、ΔT)下分别将其驱动直至失效。借助一个部件(K1、K2、K3、…KN)的与负荷相关的失效时间(T、N),纪录所述部件(K1、K2、K3、…KN)的一个寿命终止(EOL)曲线(8)。所述产品的一个EOL曲线(11)如此来获得,即它在不同的负荷(T、ΔT)下包含所述部件(K1、K2、K3、…KN)的EOL曲线(8)中的那些在相应的负荷(T、ΔT)下分别具有最短的失效时间(T、N)的EOL曲线。将所述产品的预期寿命作为所述产品的EOL曲线(11)上的与所述产品的给定负荷(1、3)相关的函数值来获得。

产品容错性测试方法及其故障插入装置 594     

 0

本发明提供了一种产品容错性测试方法及其故障插入装置,通过产生故障模拟信号对产品进行容错性测试,所述方法在产品内部设置故障插入装置,由故障插入装置产生不同类型的故障模拟信号,通过产品内部的CPU控制接口选通故障插入装置的通信控制模块,对通信控制模块的控制寄存器进行内容控制,有选择性地将不同类型的故障模拟信号插入任意的芯片输入/输出管脚或直接插入芯片内部的功能模块,从而模拟产品内部单元部分失效或全部失效。本方法可以为电子产品提供一种简单、功能强大的在线故障插入手段,可完成多种类型信号故障的模拟,全面模拟各种故障模式,提高了单板测试覆盖面和重复性,丰富了容错性测试方法,改善了测试效果。

透射电镜样品的制备方法及观测方法 578     

 0

本发明提供了一种透射电镜样品的制备方法及观测方法，制备方法包括如下步骤：提供待观测芯片，所述待观测芯片包括失效地址单元；通过电子束在所述失效地址单元上形成第一保护层；在所述待观测芯片上形成一标记，所述标记在所述第一保护层一侧；通过离子束在所述第一保护层和所述标记上形成第二保护层。在本发明提供的透射电镜样品的制备方法及观测方法中，可以通过所述标记标出出失效地址单元的位置，从而对制得的透射电镜样品观测时，能够快速准确的找到失效地址单元，通过两层保护层能够有效的保护失效地址单元不受其它操作的影响，通过离子束形成的第二保护层较通过电子束形成的第一保护层更致密，从而既能够实现对于失效地址单元的有效保护。

铝电解电容的倍压测试方法 739     

 0

本发明公开了一种铝电解电容的倍压测试方法，包括以下步骤：测试一：采用直流电，在第一温度条件下，对铝电解电容施加x秒的第一电压；逐级调大所述第一电压并重复测试一的步骤，直至所述铝电解电容失效；测试二：采用直流电，在第二温度条件下，对铝电解电容施加y秒的第二电压；逐级调大所述第二电压并重复测试二的步骤，直至所述铝电解电容失效。本发明能够观测铝电解电容在不同温度、电压条件下的失效情况，确认是否正常、安全、可控，对铝电解电容的实际失效情况模拟性强，更具代表性，因此测试结果的可信性更强。

BMS控制器测试系统及方法 1008     

 0

本发明公开了一种BMS控制器测试系统及方法。该测试系统包括：控制模块、继电器模块和指示模块，所述继电器模块包括至少两个继电器；所述控制模块用于向至少一个待测BMS控制器发送配置信息，其中，所述配置信息包括硬件失效测试信息，所述硬件失效测试信息用于测试所述BMS控制器的硬件控制是否失效；所述指示模块用于指示所述继电器导通或关断状态并根据所述继电器导通或关断状态得到指示结果；所述控制模块还用于根据所述配置信息及所述指示结果输出测试报文。本发明实施例提供的技术方案实现了模拟BMS控制器工作验证测试，并且通过添加硬件失效验证，对BMS系统控制器硬件失效问题进行诊断，提高了验证安全性、开发效率和验证全面性。

基于深度学习耦合建模的飞机发动机剩余寿命预测方法 592     

 0

本发明涉及一种基于深度学习耦合建模的飞机发动机剩余寿命预测方法，包括：获取飞机发动机的多元传感器失效信号，载入深度学习耦合模型中，获取飞机发动机随时间演变的潜在失效状态分布，得到剩余使用寿命的分布结果，实现飞机发动机的剩余寿命预测；深度学习耦合模型包括失效过程模型和融合模型，失效过程模型用于描述飞机发动机随时间演变的潜在失效状态，融合模型用于结合多元传感器失效信号，构建发动机的健康指数HI。与现有技术相比，本发明充分考虑飞机发动机失效过程状态，利用飞机发动机运行中采集到的反映其健康状态的多元传感器信号数据，实现对飞机发动机失效过程的建模和剩余寿命的预测。

增压器涡轮疲劳寿命预测及其可靠性评价方法 960     

 0

本发明涉及一种增压器涡轮疲劳寿命预测及其可靠性评价方法,通过计算与涡轮相匹配发动机耐久性试验剖面的四种主要工况,计算增压器对应发动机四种不同工况的平均转速,计算确定涡轮的危险部位以及涡轮危险部位对应四种不同转速的四个应力,计算涡轮材料疲劳寿命(或对数疲劳寿命)的均值和标准差与应力之间的函数关系,计算对应四个不同应力的涡轮疲劳寿命(或对数疲劳寿命)的均值和标准差,确定涡轮对应疲劳失效模式的功能函数,计算涡轮疲劳失效模式功能函数的均值和标准差,即可对涡轮的疲劳寿命进行预测和可靠性评价,并且能够计算出涡轮疲劳可靠度和失效率随疲劳寿命的变化规律,可以更好地指导涡轮的结构设计和合理地确定涡轮的使用寿命。

设备平均寿命的预测方法及系统 684     

 0

本发明公开了一种设备平均寿命的预测方法及系统。所述方法包括：获取设备的退化数据、失效数据和截尾数据；依据设备的个体差异参数和测量误差参数，建立退化模型；构建加速退化模型；依据退化模型和加速退化模型构建失效率模型；依据退化数据，对退化模型中的第一待估参数进行估计；采用最小二乘法对加速退化模型中的第二待估参数进行估计；依据失效数据、截尾数据、第一待估参数的估计值和第二待估参数的估计值，对失效率模型中的第三待估参数进行估计；利用确定第三待估参数后的失效率模型对设备的平均寿命进行预测。本发明考虑了设备的个体差异性和数据测量误差的影响，提高了设备平均寿命预测结果的准确性。

基于自测试的1553总线接口电路快速筛选系统及方法 799     

 0

一种基于自测试的1553总线接口电路快速筛选系统及方法，用于对Mini‑ACE系列1553总线接口电路在完成MCM封装后做功能异常筛选，剔除协议失效和存储器失效电路。系统包括：一次供电、二次供电、主控处理器、I/O输入输出、逻辑解码、VGA控制器、结果提示和显示器。主控处理器按照对应的筛选模式通过待测电路的HOST接口顺序对其输入筛选激励：启动RAM测试‑停止RAM测试‑启动协议测试‑停止协议测试，根据筛选情况将结果通过提示模块和显示器输出给筛选人员。本发明用于具有自测试功能的1553系列接口电路的生产过程，可在早期剔除失效电路，避免了在生产过程中对失效电路进行常规的反熔丝结构熔烧、三温测试和有效性测试等工作，大大减少了工时浪费，提高了生产效率及产能。

基于MLE和蒙特卡罗仿真的卫星寿命预测方法 927     

 0

本发明提供了基于MLE和蒙特卡罗仿真的卫星寿命预测方法。该方法将卫星失效分为随机失效和耗损失效两大类，建立随机失效产品的寿命模型，根据卫星随机失效产品各单机失效率和其可靠性逻辑关系，采用蒙特卡罗仿真方法，求得卫星系统随机失效的首次故障前平均时间MTTF，由此获得卫星系统随机失效可靠性函数R_随机(t)；建立耗损失效产品的寿命模型，根据卫星耗损失效产品各单机可靠性逻辑关系及其耗损寿命均值和方差，利用蒙特卡罗仿真方法，计算得到卫星耗损寿命的均值和方差估计，由此获得卫星系统耗损失效可靠性函数R_耗损(t)；将卫星系统随机失效和耗损失效函数进行综合解析，得到卫星平均任务持续时间MMD，以此作为卫星系统的寿命预测结果。该方法计算准确客观。