合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 塑封光电耦合器贮存寿命预测方法

塑封光电耦合器贮存寿命预测方法

759   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:20
本发明提供一种塑封光电耦合器贮存寿命预测方法,它有以下七个步骤:一、确定敏感参数;二、明确物理加速模型;三、确定保持失效机理不变的温度应力;四、开展加速寿命试验;五、试验数据预处理;六、估计物理模型中参数值;七、计算贮存应力下,塑封光耦的寿命。本发明构思新颖,程序简约,可计算贮存状态下塑封光耦的寿命,反应失效机理,可节约成本,解决传统寿命预测不能保证失效机理一致的问题,它在元器件贮存寿命评价领域有广阔的应用前景。
声明:
“塑封光电耦合器贮存寿命预测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届关键基础材料模拟、制备与评价技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记