本发明提供一种塑封光电耦合器贮存寿命预测方法,它有以下七个步骤:一、确定敏感参数;二、明确物理加速模型;三、确定保持失效机理不变的温度应力;四、开展加速寿命试验;五、试验数据预处理;六、估计物理模型中参数值;七、计算贮存应力下,塑封光耦的寿命。本发明构思新颖,程序简约,可计算贮存状态下塑封光耦的寿命,反应失效机理,可节约成本,解决传统寿命预测不能保证失效机理一致的问题,它在元器件贮存寿命评价领域有广阔的应用前景。
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