有色金属分析检测技术理论与应用

电路板材料产品寿命预测方法 1041     

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本发明涉及一种电路板材料产品寿命预测方法，属于电路电子技术领域，其包括：第一：确定电路板产品的失效部位及失效方式，失效部位及失效方式分别为电磁继电器接由于外部水汽渗入引起的触点氧化接触失效、插接件管脚由于弹性范围内的高应力疲劳及集成电路的金属化学腐蚀；第二：建立上述失效部位及失效方式的数学模型并计算得到失效部位的寿命；第三：比较上述寿命，以最小薄弱原理取最小寿命为电路板产品的寿命。本发明的电路板材料产品寿命预测方法通过引入电路板失效的常见故障形式，对故障形式进行建立数学模型，可准确预测到电路板产品的寿命。

基于ATE快速生成存储芯片修复装置及测试方法 766     

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一种基于ATE快速生成存储芯片修复装置及测试方法，该方法包括将待测存储芯片链接到ATE测试机上；对待测存储芯片发送测试波形，测试出待测存储芯片的失效阵列，将失效阵列的数据存在ATE测试机上；ATE测试机发送信号通过第二通信单元和接口单元将失效阵列的数据发送给外设处理模块的接口单元；运算单元以冗余阵列和失效阵列的数据作为输入条件，运行修复算法以及计算得到修复方案，并控制第二通信单元和运算单元向ATE测试机传输修复方案；ATE测试机根据修复方案通过第一通信单元对待测存储芯片发送修复波形，将标准成品阵列中失效阵列所承担的功能映射到冗余阵列中去完成，以实现待测存储芯片的修复。因此，本发明节省了测试时间和测试成本。

蒸汽吞吐有效期的定量测定方法 911     

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本发明公开了一种蒸汽吞吐有效期的定量测定方法。所述测定方法包括如下步骤：测定热采井的井底温度和米采油指数，得到井底温度和米采油指数与时间之间的变化曲线；根据井底温度失效判别标准和井底温度与时间之间的变化曲线得到的时间为第一热采效果失效点；根据米采油指数失效判别标准和米采油指数与时间之间的变化曲线得到的时间为第二热采效果失效点；当第一热采效果失效点与第二热采效果失效点的绝对时间差不超过50天时，第一热采效果失效点和第二热采效果失效点之和的中间值为热采井的有效期；当第一热采效果失效点与第二热采效果失效点的绝对时间差超过50天时，第二热采效果失效点为热采井的有效期。本发明提供了一种蒸汽吞吐有效期的定量确定方法，弥补了此方面的空白。

对RRAM存储器耐久性参数进行测试的方法 749     

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本发明公开了一种对RRAM存储器耐久性参数进行测试的方法，该方法包括：判断RRAM存储器当前所处的状态，以确定起始向RRAM存储器加载的脉冲是编程脉冲还是擦除脉冲；连续交替的向RRAM存储器加载编程脉冲和擦除脉冲，并在向RRAM存储器加载了10^Ln次编程脉冲和擦除脉冲后测试RRAM存储器的状态是否失效，在RRAM存储器失效时记录最后使RRAM器件失效的加载编程脉冲和擦除脉冲次数10^Ln，即得到耐久性参数为10^Ln-1次，其中Ln＝n-1，n为自然数。利用本发明，极大加快了待测器件耐久性参数的获取。

晶圆测试结果加严修正筛选方法 896     

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本发明一种晶圆测试结果加严修正筛选方法，使用Map工具软件，定义边缘失效芯片、连续失效芯片、孤立有效芯片的特征识别算法模型，并基于边缘失效芯片、连续失效芯片、孤立有效芯片所在区域的图形识别，可对该区域通过晶圆测试的有效芯片进行修正，从而将连续失效芯片区域边界上的晶圆测试结果进行加严修正后转置输出，使得晶圆测试结果与工艺关联，并将潜在失效芯片过滤，从而提高识别失效芯片的效率和芯片产品输出的整体可靠性。

自卸车故障预测方法、系统、设备及存储介质 896     

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本发明提供了一种自卸车故障预测方法、系统、设备及存储介质，所述方法包括步骤：获取自卸车中目标零件的历史运行数据和一预设时间段内每一天的当前运行数据；基于历史运行数据和当前运行数据，分别计算目标零件在预设时间段内每一天的失效率；基于目标零件在预设时间段内的失效率，预测目标零件在当前单位时间的失效率；利用目标零件在预设时间段内的失效率以及当前单位时间的失效率，对一预设周期内的失效率进行更新，并利用更新后的预设周期内的失效率，逐一预测下一单位时间的失效率，直至下一单位时间的失效率大于等于第一预设阈值，获得对应的目标单位时间；本申请实现对自卸车故障发生的提前预判，利于提高运输作业效率。

pMOSFET器件负偏置温度不稳定性寿命预测方法 981     

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本发明公开了一种pMOSFET器件负偏置温度不稳定性寿命预测方法,包括:S1:施加负偏置应力之前,测量pMOSFET器件的初始特性,得到初始器件参数;S2:对该器件的栅极施加应力条件,且漏极电压为正常工作电压,在预设的时间间隔内对该器件进行应力老化测试;S3:对该器件进行参数测试,得到与老化时间相关的器件参数,直至总体应力时间结束;S4:漏极电压为正常工作电压下,重复步骤S2和S3,进行不同应力条件测试,以器件参数退化到临界点为准,得到相应应力条件下pMOSFET器件的失效时间;S5:利用不同应力条件下pMOSFET器件的失效时间,预测栅极电压为正常工作电压条件下的器件可靠性寿命,本发明的方法得到的器件失效时间比常规方法更短,因此更能反映pMOSFET器件的NBTI寿命。

无人船可靠性测试与评价方法 815     

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本发明实施例提供的无人船可靠性测试与评价方法，包括收集待评价无人船的系统及设备组成，基于待评价无人船的任务事件梳理故障最低约定层次；基于系统及设备组成，将待评价无人船任务事件的故障树分解至设备层级；设置可靠性测试仿真模型的最大工作失效时间、仿真次数以及故障树的各基本事件失效分布函数特征参数，设置初始化仿真次数为0，通过可靠性测试仿真模型进行仿真，产生仿真次数的基本事件的失效事件随机抽样，并依据失效时间进行排序；统计进行仿真次数的仿真后系统的失效时间，并将失效时间与最大工作失效时间进行比较，确定失效事件发生概率；记录失效时间、统计系统的失效分布，并确定系统的平均故障间隔时间和任务可靠度。

存储设备寿命预测、确定方法及装置 818     

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本发明实施例公开了一种存储设备寿命预测、确定方法及装置，所述预测方法包括：获取存储设备的累计失效数据块数量，以及，与所述累计失效数据块数量对应的累计擦写次数；判断所述累计失效数据块数量是否大于预设失效数据块限值；当所述累计失效数据块数量大于预设失效数据块限值时，利用所述累计擦写次数以及所述累计失效数据块数量确定与所述存储设备对应的预测模型；利用所述预测模型预测所述存储设备的擦写次数阈值。该方法不再是为存储设备设置一个固定的擦写次数门限值，而是结合存储设备在使用过程中的累计失效数据块数量，以及，累计擦写次数，因此，可以准确确定一个符合该存储设备的实际使用情况的擦写次数阈值。

电动汽车电驱系统控制板的高加速寿命自动测试方法及系统 914     

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本发明公开了一种电动汽车电驱系统控制板的高加速寿命自动测试方法及系统，属于寿命测试技术领域，用于解决目前寿命测试不够全面的技术问题，此方法具体为：1)搭建电动汽车电驱系统控制板的高加速寿命试验系统；对被测样品进行功能分解，确定各项功能的失效判据，定义直接或间接可观测功能正常或失效的监测参数，并注入至高加速寿命试验系统中；2)在高加速寿命试验系统中对被测样品进行自动测试，同时实时监测各项监测参数，并根据各项监测参数判断被测样品正常或失效，以及在失效时进行失效报警。本发明具有测试全面、操作简便、实时监测并记录以及针对性强等优点。

机械设备再制造时机的预测方法 726     

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本发明涉及一种机械设备再制造时机的预测方法，先获取机械设备中若干部件的失效时间，作为样本数据，利用中位秩法估计累计失效概率；最小二乘法进行参数拟合，得到累计失效概率和可靠度的关系表达式；利用累计失效概率和可靠度的关系表达式以及两参数威布尔分布的可靠度表达式，获得两参数威布尔故障率h(t)的求解公式；利用h(t)的求解公式，根据公式求解N(t)；构建再制造时机决策模型，将N(t)代入再制造时机决策模型中，求解理论再制造时机Td；对比理论再制造时机Td和机械设备失效后的回收时机Tb的大小，确定机械设备再制造时机。本发明能对再制造时机可靠预测，控制废品失效程度，节省再制造成本。

用于监测存储器以便引退的系统和方法 704     

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本主题申请涉及用于监测存储器以便引退的系统和方法。本文提出的系统和方法提供了监测区块、页面和/或条带降级。在一个实施方案中，控制器可操作为扫描存储器的第一区块以识别所述第一区块的一部分中的失效。所述控制器暂停对所述第一区块的所述失效部分的输入/输出(I/O)操作，并且测试所述第一区块的所述失效部分以确定所述失效是否为瞬时失效。测试包括为所述第一区块的所述部分加载数据，并且从所述第一区块的所述加载部分读取所述数据。如果在测试后所述失效减弱，则所述控制器还可操作为确定所述失效是瞬时失效，并恢复对所述第一区块的所述部分的I/O操作。

利用Excel实现晶圆测试Summary标准化的方法 911     

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本发明公开了一种利用Excel实现晶圆测试Summary标准化的方法，首先每个产品建立明确的失效项目表格和标准化的测试图形母版（含标准参考点）；然后利用Excel?VBA编程将探针台原始文件转换成测试图形（含确定的参考点）；再次利用Excel?VBA编程，计算参考点和标准参考点之间的差值，实现原始测试图形和标准化测试图形母版的参考点的重合，同时进行相关数据处理，生成和标准化测试图形母版一致的图形；最后根据失效项目表格对批量处理后的标准化图形进行Summary信息提取统计，最终实现晶圆测试Summary的标准化。本发明实现了测试总数、失效项目等的严格统一，替换传统的风格各异的Summary格式，适用于不同类型探针台生成的测试图形或不同测试代工厂提供的测试图形等。

非易失性存储器可靠性的测试方法和装置 760     

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一种用于非易失性存储器可靠性测试的方法，包括如下步骤：在K个分别 具有Nm个区块的非易失性存储器的每一个中分别选取N个区块；对被选取的 K×N个区块分别执行T次测试程序，得到测试数据；根据测试数据，统计执 行测试程序次数与该次数的测试中累计发生失效的区块数目之间的数据关系 并绘制测试曲线；确定等效失效区块数目判断标准；在测试曲线中读出执行次 数值对应的失效数目；将得到的失效数目与等效失效区块数目判断标准相比 较，判断是否合格。本发明还提供了一种用于非易失性存储器可靠性测试的装 置。本发明的优点在于，所述测试方法和装置在不丧失统计学意义情况下，降 低测试的时间，提高测试效率。

微加速度计可靠性强化试验测试方法 953     

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本发明涉及MEMS类传感器-微加速度计的测试方法,具体是一种微加速度计可靠性强化试验测试方法。能够了解微加速度计在温度、振动和湿度综合应力环境下的失效模式,方便产品研发,改善产品整体性能,步骤如下:1.微加速度计于温度应力下的强化测试步骤;2.微加速度计于温度、振动综合应力下的强化测试步骤;3.微加速度计于温度、振动、湿度综合应力下的强化测试步骤。本发明兼顾温度、振动和湿度三应力对微加速度计内部结构的影响。通过对微加速度计逐步施加温度、振动和湿度三应力,了解与微加速度计功能失效前和失效时对应的三应力情况,以便解决微加速度计的缺陷,提高微加速度计的整体性能、可靠性,利于高可靠性微加速度计新产品开发。

汽车零件的故障预测方法、装置、计算机设备和存储介质 792     

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本申请涉及一种汽车零件的故障预测方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：首先基于待测汽车零件的历史故障数据获取失效曲线，再将该失效曲线与经典失效曲线进行比对，以此确定该汽车零件的失效模式是否为多种失效模式，若是，则可确定使用混合预测模型对多种失效模式的汽车零件进行预测。因此预先判别待预测汽车零件是否对应于多种失效模式，若是则可通过混合预测模型对该多种失效模式的汽车零件进行预测，获得待测时刻下的汽车零件的预测累计失效率。这样，该预测累计失效率能够体现多种模式对汽车零件不良规律的影响，进而提高汽车零件故障预测的准确率。

实现冗余功能存储器芯片测试的方法 606     

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本发明公开了一种实现冗余功能存储器芯片测试的方法，其把存储器芯片主区域测试向量按最小冗余单元进行分割，做成子测试向量组；针对每个测试项目分别运行子测试向量组，读出子测试向量组的每个向量的测试结果；把失效向量的序号换算成失效单元地址存放在内存变量中，不同测试项目的子测试向量组测试出的失效单元地址存放在不同的内存变量中，并累积计算每个测试项目的失效单元个数及地址；根据每个测试项目的失效单元个数及地址，统计得出存储器芯片主区域失效单元数的总和以及失效地址。本发明的实现冗余功能存储器芯片测试的方法，可以利用自带数字向量发生器的数字测试机实现和存储器测试机相同的冗余功能存储器芯片测试，降低测试成本。

半导体设备及其测试方法 758     

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一种用于半导体设备的测试方法,所述半导体设备设置有使用由第一编码和第二编码组成的乘积码以实现存储器的纠错的ECC电路,所述测试方法包括以下步骤:获得通过分别根据第一编码和第二编码的独立校正操作实现的第一通过/失效确定结果和第二通过/失效确定结果;将该结果分别记录在第一失效存储器和第二失效存储器中;执行与第一失效存储器的内容与第二失效存储器的内容有关的指定逻辑运算,如与运算;并根据逻辑运算的结果,对失效位和潜在失效位进行补救。

测试阻变随机访问存储器件的数据保持特性的方法 1035     

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本发明公开了一种测试RRAM器件的数据保持特性的方法，包括以下步骤：a)控制样品台的温度，将RRAM器件保持为预定的温度；b)将RRAM器件设置为高阻态或低阻态；c)向RRAM器件施加预定的测试电压，使其发生电阻态失效，以测量数据保持时间；d)重复步骤a)-c)，进行多次测量；e)利用多次测量的数据保持时间，计算出RRAM器件的电阻态失效概率F(t)；以及f)对电阻态失效概率F(t)进行拟合，并利用拟合得到的参数进一步计算出预期数据保持时间tE。优选地，利用电压加速和温度加速相结合预测RRAM器件的数据保持时间。该测试方法可以准确且快速地评估RRAM器件的数据保持特性。

用于核电站的系统可靠性测试方法以及系统 767     

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本发明公开了一种用于核电站的系统可靠性测试方法以及系统，方法包括：通过故障注入的方式使待测系统在不同的加速应力水平下运行；获取待测系统在不同的加速应力水平下运行时的失效数据，并将获取的失效数据还原为正常应力水平下的失效数据；根据正常应力水平下的失效数据获取待测系统的可靠性信息。本发明加速了失效过程，将长时间的可靠性测试缩短到可接受的水平；进一步地，故障模式库包括与待测系统的层级架构对应的几种层级故障，因此可选的故障模式囊括了各种层级故障，可以引发系统各层级协同失效，克服单一应力不足以表征系统失效机理的弊端；通过危害度刻画应力水平，所选取的故障模式的危害度累加符合加速应力水平所对应的危害度要求。

晶圆测试错位的监控方法、装置、设备及存储介质 602     

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本申请公开了一种晶圆测试错位的监控方法、装置、设备及存储介质，属于半导体技术领域。所述方法包括：获取第一晶圆中的多个指定位置上的芯片的测试结果，得到多个芯片的测试结果，测试结果用于指示对应的芯片有效或失效；根据多个芯片的测试结果，确定失效芯片信息，失效芯片信息包括多个芯片中失效芯片的失效芯片比例和/或失效芯片位置分布信息；根据失效芯片信息，确定第一晶圆是否发生测试错位。本申请解决了如何监控晶圆是否发生测试错位的问题，从而可以避免由于测试错位导致的不良芯片被误封装而良品芯片被丢弃的情况。

后处理装置的NOX转化效率的车载诊断监测 729     

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本发明涉及后处理装置的NOX转化效率的车载诊断监测。一种用于指示动力系中的失效催化剂的方法,所述动力系包括内燃机和具有后处理装置的后处理系统,所述后处理装置采用催化剂来转化NOX,所述方法包括:监测进入后处理系统的NOX含量;监测离开后处理系统的NOX含量;基于进入后处理系统的NOX含量和离开后处理系统的NOX含量来确定实际转化效率;监测影响后处理装置的转化效率的因素;基于影响后处理装置的转化效率的因素确定表示失效催化剂的失效转化效率;和基于将所述实际转化效率与所述失效转化效率进行比较来指示所述失效催化剂。

模块化测量探头 637     

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公开了一种测量探头,例如碰触触发式探头,其包括连接到基部模块(20;120)上的触针模块(22;122)。所述触针模块(22;122)包括壳体和可动地连接到所述壳体上的触针保持器(24;132)。所述基部模块(20;120)包括测量部分(36;124),用于产生表示所述触针保持器(24;132)相对于所述壳体的运动的测量数据。所述触针模块(22;122)具有内置失效模式,并由此具有基本上预定的使用寿命。在一种实施方式中,通过将电池(34)一体地结合到所述触针模块(22)中提供所述内置失效模式。还描述了提供机械失效模式,其中,触针模块(122)的部件在一定的使用量之后突然失效。

电迁移加速测试方法 806     

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本发明提供了一种电迁移加速测试方法，包括：获取能消除测试结构焦耳热的临界电流密度；预估测试结构总数；对所述测试结构施加多个低于临界电流密度的电流进行电迁移加速测试使测试结构加速失效，并得到加速失效时间；当测试结构加速失效数量达到预设值时，停止测试，获取失效测试结构的加速失效时间对累计加速失效率的分布；根据测试结构的加速失效时间对累计加速失效率的分布计算测试结构的寿命。通过获取能消除测试结构焦耳热的电流范围，再从其中选取多个电流密度对应的电流对测试结构进行电迁移加速测试，避免了电迁移加速测试中焦耳热的影响，最终使获取的测试结构的寿命更加准确。

基于电子散斑技术预测集成电路工作寿命的方法 776     

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本发明公开一种基于电子散斑技术预测集成电路工作寿命的方法,通过建立一套基于电子散斑技术的测量系统,给集成电路试件施加温度应力,测量集成电路试件封装的离面位移随温度变化规律,找出集成电路试件失效机理发生变化的温度点进而确定其失效机理一致的温度范围;接下来根据失效机理一致温度范围内集成电路试件的离面位移变化规律来提取其失效激活能;最后结合阿伦尼斯模型和累积失效模型建立寿命预测模型,得出该集成电路试件不同温度环境下的工作寿命。

防喷器系统可用性预测方法、装置、设备和存储介质 809     

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本申请提供一种防喷器系统可用性预测方法、装置、设备和存储介质。防喷器系统可用性预测方法包括：获取基础运行周期内防喷器系统的机械子系统的各失效模式的基础失效率，以及基础运行周期内防喷器系统的机械子系统的定期测试数据、安装测试数据和维修数据；根据威布尔分布和所述基础失效率构建所述机械子系统的失效率模型；采用所述失效率模型拟合所述机械子系统在目标运行周期内各失效模式的目标失效率；根据所述目标失效率和所述机械子系统的定期测试数据、安装测试数据和维修数据构建马尔可夫模型；根据马尔可夫模型确定防喷器系统在目标运行周期内的可用性。本申请的方法，提高了预测的防喷器系统可用性的准确度。

软件测试方法及其装置 734     

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本发明公开了一种软件测试方法及其装置，设定一测试程序；对所述一测试程序分别进行揭错测试和可靠性测试，得到缺陷失效后对应的L组测试失效数据，所述测试失效数据包括揭错测试过程信息及对应的程序失效率，L为大于等于1的正整数；根据L组测试失效数据，确定用于指示所述揭错测试过程信息与所述程序失效率之间关系的约束方程，从而在以揭错为目的的软件测试中，确定揭错测试过程信息，根据指示所述揭错测试过程信息与所述程序失效率之间关系的约束方程预测程序失效率，从而达到合并揭错和可靠性评估的目的。

扫描失败率的预测方法、装置、设备及存储介质 771     

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本发明实施例公开了一种扫描失败率的预测方法、装置、设备及存储介质。该方法应用于运行有实时操作系统的扫描失败率的预测设备上，可以包括：在监测到失效测试的触发事件时，获取测试开始时间且执行触发事件对应的失效测试脚本，其中，失效测试脚本是用于模拟待运行于实时操作系统上的磁共振软件进行磁共振扫描时的扫描流程的脚本；在失效测试脚本执行完毕后获取测试结束时间，并根据测试开始时间、测试结束时间和失效时间更新失效次数；基于失效次数和测试次数确定磁共振软件的实时失效率，并根据实时失效率预测磁共振软件的扫描失败率。本发明实施例的技术方案，可以在将磁共振软件应用于现场环境前快速预测出磁共振软件的扫描失败率。

铅酸电池应用寿命预测系统 1007     

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本发明公开了一重铅酸电池应用寿命预测系统，包括，参数获取单元、运算单元和输出单元；参数获取单元，该单元获取铅酸电池在不同环境下，工作工程中待预测电池放出电量值、环境温度和剩余容量；所述的计算单元包括：失效平均速率模型计算模块，由所述的衰减比计算得出待预测铅酸电池实际应用的失效系数，进而建立带有失效系数的电池的失效平均速率模型：预测决策函数计算模块，设定自学习电池荷电状态等同于初始量，设定当电池失效系数为常数时，根据结构风险最小化原则，依据最小二乘向量机得到最小二乘向量机LS‑SVM决策函数：由所述的输出单元输出寿命预测结果。

电能表寿命预测方法及装置 914     

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本发明涉及一种电能表寿命预测方法及装置。其中方法包括：对于待预测的一组电能表，获取其历史失效数据和预报温度数据，根据其历史失效数据得到威布尔分布模型，得到待预测的一组电能表的原始预测失效率；设定基准温度，定义基准温度对应一个基准调整系数，基准调整系数＝a；预报温度对应的调整系数为：结合电能表的原始预测失效率和预报温度对应的调整系数得到待预测的一组电能表的预测失效率，通过预测失效率预测电能表的寿命。本发明将温度对电能表的影响考虑到失效率中时是通过温度的倒数求解不同温度下对应的调整系数，进而对原始预测失效率进行调整，得到预测温度下的预测失效率，达到更加准确的预测电能表寿命的目的。