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基于扫描链的存储器测试方法

1036   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:20
一种基于扫描链的存储器测试方法,首先,Tetramax的第一个测试向量通常都是只带串行移位,如果通过了这个测试向量,则测试将转向带并行捕获模式的向量;而如果扫描链的端口有错误,则需要鉴别错误发生的端口或类型;利用并行捕获模式,采用二分法植入调试向量;观察移位向量的调试输出,不断用二分法细化,直到准确定位到失效的寄存器。本发明通过并行捕获的功能,可以在扫描链中根据需要安插测试向量,从而能够快速有效地定位串行移位出错的位置,从而大大提高了测试的覆盖率。
声明:
“基于扫描链的存储器测试方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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