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本发明涉及一种基于离散事件系统的无损事件压缩方法，包括给定离散事件系统及其产生的源事件序列得到最小可恢复的压缩事件序列；给定第一压缩协议：保留源事件序列中的最后k个事件；给定第二压缩协议：对于任何循环子事件序列，至少保留一个事件，建立压缩自动机模型表示给定压缩事件序列所有可能的源事件序列，基于该压缩自动机模型检测给定压缩事件序列是否1‑阶可恢复以及是否满足第二压缩协议，分别提出离线无损事件压缩方法和在线无损事件压缩方法。本发明利用了系统动态产生的信息冗余，作为基于系统的压缩方法，减少存储资源，在节省更少动作的同时，保证能够追踪到系统发生的所有动作。
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本实用新型公开了一种无损粉尘采样管，包括外围套装有外管的采样管本体，外管与采样管本体之间设有密封连接结构；外管与采样管本体之间设有气腔，外管上设有与气腔连通的进气管；与气腔对应位置的采样管本体上设有若干个微孔。通过密封连接结构实现了外管在采样管本体上的密封连接，通过采样管本体在采集气体的过程中，洁净空气依次通过进气管、气腔和若干个微孔进入到采样管本体内，洁净的空气会在采样管本体内壁的微孔处形成气幕，进而避免了气体中的粉尘附着在采样管本体内壁上的问题，有效提高了后续检测的准确度和精度；同时，洁净的空气会与采集到的气体混合，能起到稀释采集到的气体中水份的作用，有助于提高后续检测的准确度和精度。
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本实用新型提供一种无损切割晶体硅片的专用装备，属于晶体硅技术领域，该无损切割晶体硅片的专用装备包括放置台，放置台的上端设有激光安装座板，激光安装座板的上端设有输送线支撑板，在需要对硅片进行加工切割时，可以将其放置在料盒内，而后通过皮带将其传输至上料升降气缸和载台感应处位置，这时料盒到位检知感知到硅片的存在便会启动步进丝杠电机使其将升降板顶升至到料检测对射处，而后通过激光横移模组、激光安装座板和激光模块便可以将硅片进行切割，通过这样的方式使得硅片可以得到完全自动的切割，并且本装置的结构较少，利于后续进行维修，并且提高硅片的切割精度。
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本实用新型提供一种工件转动的无损探伤设备,包括X射线检测装置、转动组件、工件夹持组件，所述X射线检测装置包括支架、X射线发生单元、X射线成像单元，所述X射线发生单元的数量不少于两个，所述支架至少包括有两相对的基面，一基面上的所述X射线发生单元与另一基面上的所述X射线成像单元相对应；同一所述基面上安装的所述X射线发生单元相邻至少一侧安装有X射线成像单元，通过多个所述X射线发生单元为工件进行检测，一次检测工件一面，方便检测大型工件，减少检测时间，提高效率，该探伤设备结构简单，使用方便。
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本发明公开了一种报废汽车的挡风玻璃无损拆解装置，包括用于输送待拆解车辆的输送部、用于检测挡风玻璃边缘并进行切割的机械臂部和用于控制切割参数及切割路径的控制部，所述机械臂部包括机械臂，所述机械臂末端设有挡风玻璃边缘检测传感器和切割器，所述挡风玻璃边缘检测传感和切割器分别与控制部电连接，所述挡风玻璃边缘检测传感器检测挡风玻璃边缘若干特征点三维参数向控制部发送，所述控制部根据挡风玻璃边缘检测传感器发送的若干特征点三维参数确定切割路径控制切割器按切割路径切割。该装置每次工作前不需要进行外部的起始位置或关键位置的标定；不需要复杂的软件处理。采用人机交互的方式，降低了生成成本和使用成本。
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本实用新型属于超声波探伤领域，尤其是一种便于使用的超声波无损探伤设备，包括固定板，固定板的正面固定连接有探伤装置，探伤装置的下方固定连接有固定垫，固定垫的正面固定连接有手把，手把的左右两侧均固定连接有工具筒，固定板背面的中部开设有方槽；通过手把的设置，在探伤检测过程中，可将该设备进行手持探伤检测，便于使用，省时省力，从而提高了该设备的检测效率，通过工具筒的设置，可使工具检测杆对检测物进行进一步探伤检测，从而使得该设备具备辅助检测的作用，通过方槽、磁铁、橡胶圈的配合设置，在使用时，只需要通过磁力将该设备放到金属检测物上即可，便于进行探伤检测，从而使得该设备达到使用方便的效果。
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本实用新型涉及一种康普顿散射无损探伤装置,包括放射源、前准直器、探测器、后准直器和扫描运动装置,其中放射源、前准直器、后准直器及探测器均安装于扫描运动装置上。后准直器按不同分辨率要求设置尽可能多的射线通道以提高检测的有效性,射线通道两端延长线分别指向探测器和被测物体上的检测部位。所述后准直器和探测器沿入射射线束的康普顿散射方向设置,且该后准直器设于被测物体与探测器之间。其优点在于探测灵敏度高,并有利于简化整机结构,降低成本。
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本实用新型公开了一种能够上下扫描无损成像装置，包括基座、设置在基座上的两个立柱和位于两个立柱之间且与两个立柱排列在一条直线上的载物台，其中一个立柱上设置有探测器安装座和探测器，另一立柱上设置有射线源安装座和射线源，两个立柱上均设置有垂直滑轨和丝杆，所述探测器安装座和射线源安装座上均固定有与所述垂直滑轨相配的滑块和与所述丝杆相配的螺母，并由所述丝杆驱动可上下滑动安装在各自所在立柱上，所述丝杆由电机驱动旋转，所述探测器安装座和射线源安装座与各自所在所述立柱之间均设置有光栅尺。本实用新型通过使探测器和射线源沿立柱上下移动，既大大增加了辐射成像系统垂直方向的工作行程，又避免采用结构复杂的载物台，在使检测装置结构简洁的前提下，方便了大尺寸被检物的辐射成像。
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本实用新型属于DC‑DC电力变换技术领域，具体涉及一种DC‑DC变换器漏感尖峰无损吸收电路。该DC‑DC变换器漏感尖峰无损吸收电路，变换器拓扑中变压器通过二极管D1转移至电容器C2上，并与检测电路1连接，检测电路1连接泄放电路2，通过泄放电路2与变换器拓扑中变压器的电容器C1连接。其有益效果是：连接原理简单，将漏感尖峰能量转移至输入端电容，本电路能有效降低变换器损耗，提高转换效率，减小散热成本。
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本发明涉及超声探伤领域，尤其涉及一种铸件无损自动探伤设备。技术问题：对弯头探伤时，弯头中的法兰盘极易存在缺陷，若不及时进行检测排查，极易影响后期使用。技术方案：一种铸件无损自动探伤设备，包括有底板和第一电动滑轨等；底板上表面左部固接有第一电动滑轨。本发明实现了对管道弯头进行限位，而后再将耦合剂喷涂在管道弯头的外壁，并再对管道弯头的外壁进行超声波检测，接着，再将管道弯头内壁上附着的杂质去除，接着，再将耦合剂均匀的涂抹在管道弯头的内壁，而后再进行超声波检测，并依次的对六个圆孔进行超声波检测，从而实现从多个角度对管道弯头进行探伤，避免了后期使用时存在较大的安全隐患，并提高了探伤检测的准确性。
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本实用新型提供一种具有探头快速调节结构的超声波无损探伤装置，属于探测设备技术领域，该具有探头快速调节结构的超声波无损探伤装置包括探头，所述探头的外表面从上至下依次固定连接有固定块和大螺母，所述探头外表面的底部螺纹连接有固定壳，所述固定壳的外表面固定连接有小螺母，所述固定壳的内部活动连接有接头。通过设置的伸缩杆，可以通过伸开伸缩杆使探头探不到的位置能够轻松探测到，通过设置的支座和电机，可以经过电机的带动使探头进行角度调整，使其在探测较深或较高的位置时能够方便快捷的进行角度调节，从而解决了现有技术中对被检测物体距离不够和被检测物体在管道内等情况下不能很好的进行检测的问题。
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本实用新型公开一种滤光片无损测试工装，包括测试工装固定板、测试工装、透光槽、滤光片安装槽、进气座、滤光片固定环和拉环，所述测试工装固定板的一侧表面连接有测试工装，所述测试工装远离测试工装固定板的一侧表面上设置有嵌入测试工装内部的滤光片安装槽，所述滤光片安装槽的下部设置有设置在测试工装内部的透光槽，且透光槽与滤光片安装槽相连通，所述滤光片安装槽与透光槽同轴线设置，本实用新型由于滤光片固定环设置为硬质橡胶环、滤光片安装槽的底部表面上安装有软橡胶圈可以减小测试工装对滤光片表面产生的损伤，通过气泵供气使得排风口可以向外吹气，从而减少空气中的灰层附着到滤光片的表面上，提高滤光片的测试精度。
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本申请提供一种具有无损电流感测能力的电力转换器。所述电力转换器包括：变压器；初级开关，其用于传导或阻挡在所述变压器的初级绕组中流动的电流；控制器，其被配置成产生通过第一控制节点的第一控制信号以控制所述初级开关；以及电流感测电路，其被配置成用于感测在所述初级绕组中流动的电流。所述电流感测电路包括电流感测开关，所述电流感测开关被配置成常开且其栅极长度小于所述初级开关的栅极长度。实现了相对简单的电流感测电路，且提高了总体电力效率。
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本实用新型提供一种LED光源无损实时芯片可辩测量装置，其包括：成像机构、投影机构、光束采集机构、光谱分析机构以及计算机；LED光源位于成像机构的一侧，投影机构位于成像机构的另一侧，LED光源发出的光束经成像机构投射于投影机构上，光束采集机构包括采集端以及光束传输通道，成像的光束经采集端的采集，沿光束传输通道传输至光谱分析机构，计算机与光谱分析机构相连接并进行数据传输，计算机中存储有光谱‑温度标准曲线，计算机输出测量结果。本实用新型能够方便地对由多芯片组成的LED光源的结温进行测量，并根据测量结果对LED光源的质量、使用寿命作出评价。同时，测量过程中，不必接触LED光源，保证了测量结果的准确性和实时性。
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本实用新型公开了一种X光透射支撑装置，其包括支撑底板；所述支撑底板的中部开设有贯穿所述支撑底板的窗孔；麦拉薄膜，位于所述支撑底板上；所述麦拉薄膜覆盖所述窗孔；压圈板，用于将所述麦拉薄膜的外缘压紧在所述支撑底板上；以及绷紧圈板，用于张紧所述麦拉薄膜以形成绷紧的平滑平面；所述绷紧板设置在所述压圈板上。上述X光透射支撑装置，采用绷紧的麦拉薄膜，减少X了光的损失，不会对X射线无损探伤测试机的测试结果产生噪音，不会导致分析问题的方向产生偏差，节省了人力和物力的资源。另外，其结构紧凑，使用方便，可更换性好。本实用新型还提供了一种X光无损探伤测试机。
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本发明公开了一种无损探伤测厚仪,控制电脑通过A/D转换器控制X光射线源发射X光射线,X光线发射面外活动设有待测物夹具,待测物可固定定位于待测物夹具中,待测物夹具的轴向中心线与X光线发射面平行,数字平板图像产生器设于待测物夹具背离X光射线源的一面外,数字平板图像产生器可捕捉穿过待测物后的X光射线并形成图像,数字平板图像产生器通过图像采集卡将图像传输到控制电脑,控制电脑将该图像显示在图形界面显示屏上,实际操作时利用已知尺寸的物体来界定图形界面显示屏每一像素的尺寸,通过待测物被捕捉的图形的像素面阵的明暗边缘,来精确换算出待测物的尺寸及各边缘间的厚度,从而得到所需的厚度。
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本实用新型涉及一种铝基牺牲阳极电化学性能测试用无损夹具，包括上下相对设置的上支架及下支架、设置在所述上支架和所述下支架之间用以提供所述上支架和所述下支架相向夹紧力的弹性件以及套设在所述弹性件外用以将其与外界相隔离的弹性防护件，所述上支架、所述下支架、所述弹性件以及所述弹性防护件配合的形成用以容纳待测试件和腐蚀溶液的容纳腔，所述上支架上设有导电芯棒，所述导电芯棒的周侧配合的设有第一弹性绝缘垫圈，所述下支架上设有与所述第一弹性绝缘垫圈相对的第二弹性绝缘垫圈，本实用新型的无损夹具结构简单，可简化待测试件的安装流程，并且不需对待测试件进行再加工，提高了测试的效率和准确度。
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本实用新型涉及一种苹果糖度无损测量控制电路，包括红外发射控制模块和光信号采集模块，所述红外发射控制模块包括红外发射驱动电路和红外发射电路，所述光信号采集模块包括光信号接收电路和AD采集电路。本实用新型基于电压基准源的受控周期恒流红外发射电路，结合光信号接收电路和AD采集电路获得精确的AD数据，实现苹果糖度无损测量，其在功耗、便携性和成本方面都具有较大的优势，易于推广。
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本发明公开了一种无损测量纳米线阵列比表面积和密集度的装置，所述纳米线阵列垂直设于导电基底层顶面，该装置包括电解池，设于所述导电基底层底面的背电极，设于所述纳米线阵列对应侧的对电极，以及覆盖于所述导电基底层顶面未生长纳米线区域的绝缘层；所述纳米线阵列和所述对电极浸入所述电解池中的电解液内，同时所述导电基底层和所述背电极与所述电解液绝缘设置，最后在所述背电极和所述对电极之间加上偏压U形成电解池回路结构，其优点在于，本发明测量纳米线阵列比表面积和密集度的方法为无损测量，同时适用于大面积一维纳米结构阵列的比表面积和密集度测量，且不会破坏纳米线阵列的完整性。
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本实用新型公开了一种射频同轴连接器S参数无损快速测试工装，包括第一底座、第二底座，其特征在于：在每一所述底座上设置有测试固定端、被测试件、滑动推行机构及被测件夹紧机构，所述被测试件经所述被测件夹紧机构及所述滑动推行机构固定于所述测试固定端内。本实用新型通过测试固定端、被测试件、滑动推行机构及被测件夹紧机构四者的配合，实现被测试件自动夹紧、自动插合，缩短测试时间，减轻工人工作量，提高工作效率，自动插合，不需要旋接连接螺母，保证产品外观无损。
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本发明涉及一种杆件载荷性能无损测试装置，包括超声测试模块和智能分析与输出模块。超声测试模块用于向杆件中加载超声波，利用超声波的声弹性原理而得到杆件的应力，进而得到杆件的实际载荷数据。智能输出与分析模块与超声测试模块相连接，用于获得杆件的实际载荷数据并进行显示、在杆件的实际载荷数据异常时报警。本发明利用声弹性原理，能够方便、快捷、高效地对杆件进行无损测试，以获得杆件的载荷，其安全性较高，适用范围广，测试精度高。
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本实用新型公开了一种固封件组装无损测试装置，包括基座、工作板、固定夹、移动夹以及顶杆；工作板平行于基座设置，工作板中央设有用于顶杆伸出的通孔；工作板的通孔一侧安装有固定夹，通孔另一侧的工作板上设有滑槽；移动夹上设有带螺母的螺栓，螺栓在滑槽内滑动，并通过旋紧螺母来固定；固定夹和移动夹前端为用于夹持固封件底座外壁的弧形结构。本实用新型一种固封件组装无损测试装置能够用于测试固封件的固封效果，并通过顶杆的顶起作用可实现固封件的无损拆卸。
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一种组织血氧参数无损监测仪探头，其包括电路板及焊接于柔性电路板上的探头光缆，组织血氧参数无损监测仪探头为一体浇铸成型结构，组织血氧参数无损监测仪探头还包括一体浇铸成型前焊接于电路板上的一个三波长发光二极管以及两个光敏管，三波长发光二极管与两个光敏管三者排列成一条直线，探头光缆的引出方向与三波长发光二极管与两个光敏管三者排列成的所述直线延伸方向一致，探头外壳上设有透光孔。本实用新型的组织血氧参数无损监测仪探头的线缆采用单股尾部进线方式，使得探头能够满足临床对双侧脑氧监测的要求，且探头为一体成型结构，避免了手工操作带来的工艺差异，探头整体焊接强度高，所有焊接点均被外层浇铸的PVC材料所包裹，不易脱焊。
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本发明公开了一种电子产品防尘性能无损测试方法，包括以下步骤，干燥处理，将电子产品放置在高温干燥箱中干燥，然后静置一段时间取出；电子产品预处理，对经过干燥处理的电子产品进行检查，检查电子产品中密封圈的硬度、老化程度和形变，并记录数据；开启测试，向砂尘箱中加入砂尘粉和铁屑粉，将电子产品放入砂尘箱中，砂尘箱的风扇通电工作；停止测试，关闭砂尘箱的风扇，等待砂尘完全沉降后打开砂尘箱，取出电子产品。本发明的优点在于砂尘粉中混入铁屑粉，再将电子产品置于砂尘箱中，砂尘箱进行低频振动，电子产品的磁力能够吸引铁屑粉，在振动的作用下铁屑粉更容易进入电子产品内部，从而提高防尘测试的效果。
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本实用新型涉及一种工业无损监测设备的输送装置,属于工业监测技术领域，其包括框架和移动机构，移动框架与所述移动机构卡接连接；所述框架内部设置有处理腔；所述框架右端设置有工件入口，所述工件入口下端设置有与所述框架一体连接设置的倾斜部，所述倾斜部的一端为倾斜端面，所述倾斜部的顶端设置有第一突出部，所述第一突出部外端套接有连接套；所述连接套内壁上设置有第一磁块，在所述突出部一端设置有与所述第一磁块适配的第二磁块。本实用新型解决了传统的人工处理，进行了智能自动化处理，能够将承重和无损检测结合在一起。
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本发明提供一种LED光源结温的无损实时测量方法，其包括如下步骤：S1、对待检测的LED光源进行通电，将LED光源通电后发出的光束经光学元件后形成的光学成像投影到屏上；S2、建立LED光源中各LED芯片与光学成像之间的位置对应关系；S3、根据建立的对应关系，分别采集光学成像中各个位置的光束，对光束中LED芯片发出的光进行光谱分析，获得包括对应位置的各LED芯片的光频峰值、宽度信息；S4、建立光谱‑温度关系的标准曲线，结合标准曲线和获得的光谱，确定LED光源中各LED芯片的结温温度。本发明能够实时无损地对每个LED芯片的结温进行测量，并根据测量结果对LED光源的质量、使用寿命作出评价。
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本发明公开一种指纹模组用无损伤压力测试装置，包括基座、左支撑板、右支撑板、水平桥板、至少一个水平载物台和安装于水平载物台上的转接板，左支撑板、右支撑板各自的上端之间固定有所述水平桥板；至少一个升降板位于水平桥板和水平载物台之间，所述升降板上端开有倒T字形通孔，此倒T字形通孔由贯通的连通孔和矩形通孔组成；升降板的前端面上安装有一挂板，此挂板的下端面安装有塑料腔体盒，所述塑料腔体盒的腔体内分别设置有左气缸、右气缸和测试压头座，此测试压头座固定有用于检测指纹模组电性能的测试压头。本发明施加于产品表面的力可调可控，可测试的产品类型多，经多次验证发现配有该施压治具的测试装置测试结果稳定性高，前后测试结果一致。
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一种超声波无损探伤冲压件焊缝检具，包括工具箱、检测器和探头，所述工具箱的内壁上安装有保护层，所述保护层的内部安装有检测器，所述保护层的内部安装有探头，且探头位于检测器的一侧，所述检测器的内壁上安装有同步信号发生器，所述检测器的内壁上安装有蓄电池，且蓄电池位于同步信号发生器的下方。本实用新型采用超声波无损探伤的方式，使用检测器发出超声波，用探头在冲压件表面探索，然后检波器将信号发给示波器，然后人们可以从显示屏上看到波形图从而判断焊缝是否焊接好，体积小且易携带，而且检测器及其备件存放在工具箱内，携带方便，工具箱内安装有保护层，可以给检测器及其配件提供良好的保护。
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