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LED光源无损实时芯片可辩测量装置

979   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:57:59
本实用新型提供一种LED光源无损实时芯片可辩测量装置,其包括:成像机构、投影机构、光束采集机构、光谱分析机构以及计算机;LED光源位于成像机构的一侧,投影机构位于成像机构的另一侧,LED光源发出的光束经成像机构投射于投影机构上,光束采集机构包括采集端以及光束传输通道,成像的光束经采集端的采集,沿光束传输通道传输至光谱分析机构,计算机与光谱分析机构相连接并进行数据传输,计算机中存储有光谱‑温度标准曲线,计算机输出测量结果。本实用新型能够方便地对由多芯片组成的LED光源的结温进行测量,并根据测量结果对LED光源的质量、使用寿命作出评价。同时,测量过程中,不必接触LED光源,保证了测量结果的准确性和实时性。
声明:
“LED光源无损实时芯片可辩测量装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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