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电子产品防尘性能无损测试方法

1050   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:57:58
本发明公开了一种电子产品防尘性能无损测试方法,包括以下步骤,干燥处理,将电子产品放置在高温干燥箱中干燥,然后静置一段时间取出;电子产品预处理,对经过干燥处理的电子产品进行检查,检查电子产品中密封圈的硬度、老化程度和形变,并记录数据;开启测试,向砂尘箱中加入砂尘粉和铁屑粉,将电子产品放入砂尘箱中,砂尘箱的风扇通电工作;停止测试,关闭砂尘箱的风扇,等待砂尘完全沉降后打开砂尘箱,取出电子产品。本发明的优点在于砂尘粉中混入铁屑粉,再将电子产品置于砂尘箱中,砂尘箱进行低频振动,电子产品的磁力能够吸引铁屑粉,在振动的作用下铁屑粉更容易进入电子产品内部,从而提高防尘测试的效果。
声明:
“电子产品防尘性能无损测试方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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