覆层测厚仪ST180
ST180便携式覆层测厚仪,集成了磁性和涡流两种测厚方法,选择相应测头,可以快速、无损伤、精密地进行涂层、镀层、薄膜厚度的测量。既可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度,又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度。
一、概述
ST180便携式覆层测厚仪,集成了磁性和涡流两种测厚方法,选择相应测头,可以快速、无损伤、精密地进行涂层、镀层、薄膜厚度的测量。既可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度,又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度。
二、技术参数
三、主要功能
有十种测头类型可供选择,测头接触部件镀硬铬或为红宝石,经久耐用;
通过选择相应的测头,既可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度,又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度;
具有测头零点校准、一点校准、两点校准功能, 并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正;
具有测量状态提示功能;
有EL背光显示,方便在光线昏暗环境中使用;
有剩余电量指示功能,可实时显示电池剩余电量;
具有自动休眠、自动关机等节电功能;
带有1通讯接口,可将测量值传输至PC机。
可选择配备微机软件,具有传输测量结果、测值存储管理、测值统计分析、打印测值报告等丰富功能;
采用铝制外壳,小巧、便携、坚实耐用,适用于恶劣的操作环境,抗振动、冲击和电磁干扰。