有色金属物理检测设备

XL5 Plus手持式矿石光谱分析仪 2106     

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将矿样送至远离现场的实验室检测，不但费时费力、成本昂贵，对于偏远的地方，这样做也是不切实际的。现在，有了尼通手持式矿石分析仪，您的矿物元素分析工作就可以变得格外简单。对于矿业公司来说，赛默飞世尔尼通都可以为您提供一款既节省成本又非常快速的现场XRF分析仪器，它重量轻、精度高，性能可靠，可广泛应用于勘探开采过程中各阶段的矿样成分分析。XL5Plus手持式矿石分析仪，将手持式X荧光技术与现代工业测试需求相结合。

XL3t 手持式矿石光谱分析仪 1905     

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对于矿产勘探开采行业来说，矿业公司进行决策时很多时候要依赖于已有的矿体模型、公司经验与技术。但要充分挖掘矿山价值、制定好的开采决策，这些是远远不够的。对矿山价值的利用，有一个关键前提：即需要即时获取可靠的地球化学数据，以快速描绘出矿体边界。此外，精确的矿山图绘制及矿石品位控制也需要对矿样的元素含量作定量分析。将矿样送至远离现场的实验室检测，不但费时费力、成本昂贵，对于偏远的地方，这样做也是不切实际的。现在，有了尼通手持式矿石分析仪，您的矿物元素分析工作就可以变得格外简单。

XL2 Plus手持式XRF光谱分析仪 2299     

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Niton XL2 Plus 旨在提供快速分析和低检测限，确保获得可靠结果。Niton XL2 Plus 通过专有2W x- 射线管、动态电流调节和新一代硅漂移探测器为每次测量提供很好的灵敏度。Niton XL2 Plus 通过智能基本参数法（FP）校正样品基质效应以获得准确结果。

XL2 100G手持式合金光谱分析仪 1718     

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在废旧合金回收，机械加工等行业，能够肉眼区分辨别的合金材料种类有限。针对这些低附加值行业中常规合金牌号材料的鉴别区分，尼通推出了具有竞争力的XL2 100G 手持式X荧光光谱仪，该机具有经济实用、快速、机体耐用和傻瓜型易用的优点。

XL3t 手持式合金光谱分析仪 1447     

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XL3t在原有XL2型基础上增加了选配的小点测试和内置CCD摄像头对焦功能，可采用1mm光路准直系统针对焊点，焊缝等小测试区域进行针对性测试。

XL2 手持式合金光谱分析仪 1489     

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在质量控制、材料分类、合金鉴别、安全防范、事故调查等现场应用领域中，合金牌号鉴别、金属成分快速分析，对实验室分析来说是一项挑战。现在，这一切发生了根本性的变化，赛默飞Niton——正在引发一场元素分析领域的革命：快速精确的分析结果，昂贵分析成本的大幅降低，重大决策的快速制定，均可在扣动尼通XRF分析仪扳机的刹那间轻松实现。   

XL5Plus手持式合金光谱分析仪 1443     

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合金成分和牌号的检验对于回收站、金属材料加工厂和金属质量管理等极为重要。检验员通常要在充满挑战的工作环境中快速精确确定各种类型的金属材料的分和牌号。 XL5Plus手持式合金分析仪，将手持式X荧光技术与现代工业测试需求相结合。 赛默飞世尔（Thermo Fisher Scientific），原称美国热电集团，尼通(Niton)是其旗下品牌。作为手持式X射线荧光（XRF）分析仪器制造行业的佼佼者。尼通新发布的XL5Plus系合金分析仪加入人性化设计，具有小巧，快速，精准，稳定的设计。

FAS 2100手持式X射线荧光光谱仪 1997     

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FAS 2100手持式X射线荧光光谱仪是朗铎科技精湛的元素检测技艺与客户利益的精准结合，开创了检验级手持式光谱仪人工智能发展的新方向。朗铎科技与国外光电子研究机构联合研发，在国际XRF领域掀起了一波新的数字革命浪潮。

FASO 智能在线成分光谱分析仪 1419     

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客户通过光谱仪手动/自动检测样品，数据会自动上传到分析仪，分析仪处理分析数据，根据事先设定的程序，发送I/O指令，联动其他设备完成检测。注：自动检测、设备联动，需要其他设备配合。

Niton Apollo手持激光诱导击穿光谱(LIBS)分析仪 1659     

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发现Thermo Scientific™ Niton™ Apollo™ 手持式 LIBS分析仪。设计帮助您克服棘手的分析挑战，Niton Apollo 是专门测量碳含量的实用、便携式设备。在激光诱导击穿光谱 (LIBS) 的驱动下，Niton Apollo 提供了非常快的速度、行业内较高水平的性能，提高了生产效率。它将实验室分析方法带到现场并带来了巨大可能性。

场发射透射电子显微镜 3294     

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JEM-2100F 应用广泛，从材料科学、生命科学、医疗、制药、半导体到纳米技术。 利用200KV场发射透射电镜JEM-2100F，不仅可实现超高分辨率图像的观察，同时，还可以得到纳米尺度的结构、成分等信息。 高亮度的场发射电子枪，轻松实现各种分析功能。

红外光谱仪 2788     

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傅立叶变换红外光谱仪能在最短的时间内分析具有挑战性的样品，提供最完善的解决方案。分析实验室对能够高效完成原材料和最终产品的分析任务的仪器的需求与日俱增尼高力 NICOLET IS10傅立叶变换红外光谱仪显著简化了传统傅立叶变换红外光谱仪的数据分析，样品采集和仪器验证环节，成为完成这类分析任务的一种较好的选择为确保仪器性能而设计系统性能确认（SP）是一个确保光谱仪长期稳定运行的有力工具。

热重分析仪 2958     

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STA 449 F3 JUPITER 包含TG与DSC测试系统。具有如下显著优点：消除称重量、样品均匀性、升温速率、气氛压力与流量差异等因素影响，TG与DTA/DSC曲线对应性更佳。同步热分析仪根据某一热效应是否对应质量变化，有助于判别该热效应所对应的物化过程（如区分熔融峰、结晶峰、相变峰与分解峰、氧化峰等）。同步热分析仪在反应温度处知道样品的当前实际质量，有利于反应热焓的准确计算。

紫外可见近红外分光光度计 2683     

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岛津UV－3600是世界领先的高性能的紫外可见近红外分光光度计，性能卓越。紫外可见分光光度计是每个化学分析实验室必备的常用仪器设备之一，在各种定量和定性分析中得到了广泛的应用。岛津的紫外可见分光光度计产品线非常丰富，从最普通的单光束分光光度计到测量范围可以扩展到深紫外、近红外区域的UV－VIS－NIR分光光度计。

球差电镜测试 2549     

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JEM-ARM200F差校正透射电镜，拥有STEM-HAADF像分辨率（63PM）,标配了扫描透射环形明场(STEM-ABF)成像模式。对样品在纳米尺度的精细结构和化学成份进行高水平表征检测。用于纳米科学、材料科学、生命科学等领域的科研项目。

工业CT 2585     

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XRADIA CONTEXT MICROCT，是一款大观察视野、无损 3D X射线微焦点计算断层扫描系统。可满足多种 3D 表征和检测需求的成像解决方案，不仅能够在3D全景中展示完整大样品的内部细节，还能针对小样品使用大的几何放大倍数实现高分辨率和高衬度成像观察细节特征。XRADIA CONTEXT 建立在历经考验的蔡司XRADIA平台之上，图像质量、稳定性和易用性均属上乘，且具备高效的工作流环境和高通量扫描功能。

差示扫描量热仪 3048     

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耐驰差示扫描量热仪DSC214对于日常的 DSC 测试提供了强有力的解决方案，并在硬件与软件方面作了极大的改进。仪器在易于操作的同时提供了的可靠性，使得这款仪器成为包括聚合物工业在内的诸多行业进行产品研发，质量控制与失效分析的理想工具。

洛氏硬度计 2619     

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洛氏硬度计是世界上第一台依据洛氏硬度试验原理设计的，只需要单侧接触试样就可测试金属硬度的洛氏硬度计，依靠磁力将洛氏硬度计测头吸附在钢铁表面，不需要对试样进行支撑，测试精度符合标准GB/T230、ISO6508，不低于台式洛氏硬度计。利用磁力吸盘将硬度计固定在钢铁工件表面，无需支撑，无需取样，不用移动 工件，只要单侧接触即可完成测试。

数显显微维氏硬度计 2096     

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HVS-50型数显维氏硬度计是光机电一体化的高新技术产品，具有良好的可靠性，可操作性，是小负荷维氏硬度计的升级换代产品。

Alphacen型-样品原子力显微镜 2498     

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Alphacen型-样品原子力显微镜

Flex- Mount型-大样品原子力显微镜 1676     

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Flex- Mount型-大样品原子力显微镜

Naniteafm型-原子力显微镜 1720     

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Naniteafm型-原子力显微镜

Flex-Aiom型-原子力显微镜 1730     

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Flex-Aiom型-原子力显微镜

X射线荧光光谱仪 3250     

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ARL ADVANT X 是一台灵活、高性能的顺序式 XRF 光谱仪，可分析周期表中多达84种元素。可选四种功率（从 1200W 至 4200W ），不仅能优化性能还可优化日常和苛刻应用的操作成本。X 射线荧光光谱仪 （XRF） 分析是一项应用广泛的分析技术，可利用简易的样品制备和无损分析，对各种固体和液体样品进行元素分析。

X射线光电子能谱仪 2651     

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ESCALAB 250XI X射线光电子能谱仪是一台多功能高性能的表面分析仪器，它可以用于研究各种固体材料样品表面（1-10NM厚度）的元素种类、化学价态以及相对含量。结合离子刻蚀技术还可以获得元素及化学态深度分布信息；通过成像技术可以获得元素及化学态的面分布信息；利用微聚焦X射线源或电子束可以获得微区表面信息。

电子探针显微镜（EPMA） 3303     

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日本电子 JXA-8230电子探针显微镜分析仪可以安装通用性强、使用方便的能谱仪X射线探测器，组合使用WDS和EDS，能提供无缝、舒适的分析环境。日本电子新开发出的EPMA （电子探针）秉承近半个世纪的EPMA的发展历史，JXA-8230具备用户友好的操作、通过新式简单易用的PC 用户界面提供完整范围的高精度、快速分析，这是JEOL长年来对高可靠性硬件不断改良的结果。JXA-8230电子探针是能完全满足多种需求的强力分析工具之一。

激光粒度仪（粒度/zeta） 2081     

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ZETASIZER NANO ZS90 ZETA电位分析仪是一款高性价比的分子/粒度和ZETA电位分析仪。使用动态光散射以90度散射角测量颗粒和分子粒度，具有使用激光多普勒微电泳测量ZETA电位和电泳迁移率的能力，以及使用静态光散射测量分子量。动态光散射检测由于颗粒布朗运动而产生的散射光的波动随时间的变化。检测器将散射光信号转化为电流信号，再通过数字相关器的运算处理，得到颗粒在溶液中扩散的速度信息，即扩散系数。通过STOCKES-EINSTEIN方程可以得到粒径大小及其分布。

等离子聚焦离子束系统 2290     

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蔡司双束电镜CROSSBEAM系列，是专为高通量3D分析和样品加工制备量身打造的FIB-SEM双束电镜。CROSSBEAM系列将场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)镜筒强大的成像和分析性能与全新一代聚焦离子束(FIB)出色的加工能力相结合。无论是加工、成像或进行3D分析，都能在不损失精度的前提下，提高聚焦离子束的应用效率。

X射线衍射仪 2581     

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X射线衍射仪，采用创造性的达芬奇设计，通过TWIN-TWIN光路设计，成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换，而无需对光。通过TWIST TUBE技术，使用户可以在1分钟内完成从线光源应用（常规粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到点光源应用（织构、应力、微区）的切换，让烦人的光路互换、重新对光等问题从此成为历史！

拉曼光谱仪 2310     

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拉曼光谱仪是测定分子振动光谱的仪器，可用于有机化合物、无机化合物、高分子聚合物、生物膜等各种材料的结构特性分析。采用共焦光路设计，研究物质成分的判定与确认；与红外光谱互补， 是分析物质组分、结构等的光谱分析手段之一。