有色金属物理检测设备

多角度X射线晶体定向仪 370     

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该仪器针对蓝宝石晶锭需对A、C、R、M向等多角度进行测量定向粘结而研发设计的，而且对硅单晶，砷化镓等晶体角度均可测量定向粘结，不但解决了大尺寸晶体不能一机测量定向多角度的难题，而且综合精度为±30″，确保晶体测量，定向粘结的准确性。是国内目前先进的机电光一体化的新产品。

全封闭自动寻峰X射线晶体定向仪 364     

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ALW-QZXD 800A型全封闭自动寻峰X射线晶体定向仪是最新研制的嵌入式测角仪，采用全封闭设计，利用X射线原理对晶体角度进行定向，可自动扫描出峰位角。该仪器技术指标先进，输入电流为单相交流电压220V，50Hz，功率0.5KW，配备铜靶、风冷X射线管，管电压30KV，管电流0~5mA。其计数器为闪烁探测器，时间常数有1、2两档，角度显示以标准片或标准棒为准，扫描方式为自动，光闸电动控制，综合精度高达±15″。仪器外形尺寸为1280mm×900mm×1600mm，重量为380kg。

全封闭晶棒XY轴X射线定向粘料仪 366     

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该仪器为全封闭式双工作台，左侧工作台在X光下对（2~6）英寸蓝宝石晶棒X轴定向，晶棒长度最短为20mm，利用导轨滑动在一块料板上，粘结多块晶棒；右侧工作台在X光下利用专用工具对（2~6）英寸蓝宝石晶棒Y轴角度定向，然后将晶棒和夹具一起放到磨床进行参考面的玻璃面进行磨平、加工.仪器定向粘结精度±15"/30"，最小读数1"，具有差值显示功能。

嵌入式蓝宝石粘棒X射线晶体定向仪 272     

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嵌入式蓝宝石粘棒X射线晶体定向仪该仪器为双工作台，左侧工作台在X光下定向粘结（2~6）英寸蓝宝石晶棒，晶棒长度最短为20mm，利用导轨滑动在一块料板上，粘结多块晶棒；右侧工作台在X光下定向测量（2~6）英寸蓝宝石晶棒晶片端面角度，仪器定向粘结精度±15"/30"，最小读数1"。

全封闭蓝宝石粘棒X射线晶体定向仪 366     

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ALW-600A型全封闭蓝宝石粘棒X射线晶体定向仪该仪器为全封闭式双工作台，左侧工作台在X光下定向粘结（2~6）英寸蓝宝石晶棒，晶棒长度最短为20mm，利用导轨滑动在一块料板上，粘结多块晶棒；右侧工作台在X光下定向测量（2~6）英寸蓝宝石晶棒晶片端面角度，仪器定向粘结精度±15"/30"，最小读数1"，具有差值显示功能。

嵌入式X射线晶体定向仪 403     

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YX-2H8A 嵌入式晶体定向仪是我公司根据客户生产工艺的需要而研发的新型双工作台定向仪，主要用于硅单晶蓝宝石等晶体的角度测量，一侧样品台采用V形槽设计，可为直径2~8英寸长度300mm的晶棒做端面角度测量，另一侧可做晶棒的OF面的角度测量，还可以测2~8英寸晶片端面角度测量，可测重量为1~50公斤，人性化的设计使设备更合理。

全自动洛氏硬度计 421     

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系统采用高速精密步控技术，实现全程连续跟踪和控制加力过程。测深系统采用高精度位移传感器，由此可获得最小硬度值分辨率为0.1HR。机头固定，由平台上下运动进行硬度测试。外形新颖、功能齐全、操作方便、显示清晰直观、性能稳定，是集机电于一体的高新技术产品。仪器取消了砝码，采用电动加卸试验力，可进行洛氏、表面洛氏全部标尺的硬度测试。

X射线荧光镀层测厚仪 391     

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X射线荧光镀层测厚仪是采用能量色散X荧光分析技术，同时测量多种元素的分析仪器，根据用户应用要求可配置为从Na到U的任意多种元素的分析测定。另外配以功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足金属镀层及元素含量测定的需要，人性化的设计，使测试工作更加轻松完成。此仪器具有测量元素含量与镀层厚度检测的两种功能。

手持热成像仪 303     

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支持WiFiFLIR Ex系列手持热成像仪是电气与机械检测、建筑绝缘损耗等有效之选，能快速检测安装设备的潜在危险，助力避免故障发生。全新升级FLIR E5-XT、E6-XT、E8-XT 测温范围更广，支持WiFi功能，性价比更高!

机器视觉在线红外热像仪 343     

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机器视觉红外热像仪广泛应用于各行业的工艺过程连续监控。机器视觉红外热像仪还能够轻松地收集到有关产品质量及/或生产效率的信息，利用热电偶或可见光摄像机等传统工县则难以或无法获得这些信息。若仅希望获得红外图像，不要求精确测混，那么FLIR Axx系列便是有效选择。FLIRAxx系列红外热像仪的特征和功能使其理所当然地成为采用PC软件解决问题的用户的选择。

在线红外热像仪 261     

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AX8适用于状态监控和热点探测的自动化、多波段测温红外热像仪其结构小巧，经济实惠的架构中，为关键机电设备无间断状态监控提供连续的温度监控报警.

科研型制冷红外热像仪 367     

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IRMC-615系列红外热像仪采用性能优异的制冷型红外探测器，并可提供特殊光谱滤片的定制服务，可实现多光谱成像、特殊温度量程和特殊光谱段标定等扩展性应用，例如：火焰温度测量滤片、特殊气体光谱滤片、窄带滤片、宽带导通滤片及中性衰减滤片等。

在线式非制冷红外热像仪 239     

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HiNet-IR系列在线式测温型红外热像仪，分为标准版和OEM版两大类。均采用低噪声非制冷红外机芯、高性能红外镜头，以及性能优异的成像处理电路，并嵌入先进的图像处理算法，是一款具备体积小、功耗低、启动快速、成像质量优异、测温精准等特点的红外热像仪，广泛应用于科研及工业领域。

高端红外热像仪 374     

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464*348像素--640*480像素 FLIR T800系列热像仪采用倾斜式光学设计，支持非接触检测方法，简单易用，可以安全舒适地评估关键电气和机械设备的状况。

在线式热像仪(图像流) 378     

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464*348-640*480分辨率 FLIR A50和A70图像流热像仪拥有强大的热像仪控制功能，支持通过以太网图像流图像，还能灵活地使用软件应用开展分析、采集原始数据.

手持式红外热像仪 355     

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320*240像素---640*480像素 FLIR T5XX采用人体工学设计，分辨率高，能快速排查热点、发现隐患并确认维修结果。高达640x480(307,200像素)红外热像仪配备明亮的4英寸液晶显示屏和可180°旋转的镜头平台，因此即便在难以触及区域，您都能轻松舒适地诊断电气或机械问题。

超声波脉冲接收发射装置 307     

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基于Windows平台的控制程序软件，脉冲发生器可以帮助进行超声波探伤、厚度测量、探头检测等，在无损检测、材料分析等领域有着广泛的用途；可以选择发生器的触发源、发射电压、重复频率和脉冲宽度，也可以切换接收器的单/双晶模式，调节阻尼和增益，满足用户不同的使用需求。

高精度测厚仪 366     

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UM-3高精度测厚仪是本公司推出的第一代专门用于薄件厚度测量的超声波测厚仪，具备极高的测量精度和广泛的适用性。该设备测量下限低至0.3mm，精度可达小数点后三位，分辨率为0.001mm，测量范围为0.3-20mm，特别适合平整的薄金属板、玻璃板等薄件的厚度测量。它配备128x64点阵图形液晶屏，带有EL背光，显示清晰，操作便捷。UM-3还设有5个数组，可存储500个厚度值，支持中文和英文两种语言选择，满足不同用户需求。工作温度范围为-10°C~+50°C，特殊要求下可扩展至-20°C。此外，设备可存储5种不同材料的声速，进一步增强了其通用性和灵活性。

笔试硬度计 362     

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LM330笔试硬度计是一款便携式硬度检测设备，采用笔式设计，无线缆束缚，冲击装置与显示屏一体化，配备1.77英寸彩色显示器，操作便捷。它测量范围为（200-960）HLD，示值精度为±6HLD，可存储1000组数据，并配备LMView通讯软件，支持数据传输与管理。该设备适用于多种场景，包括机械部件、磨具型腔、重型工件、压力容器、汽车发电机组等的失效分析，以及狭小空间、轴承、金属材料仓库、大型工件的现场硬度检测和生产线上工件的批量检测。它还广泛应用于金属制造、运输、发电、石油化工、航空、建筑及实验室等领域。

测厚仪 374     

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UM-5系列测厚仪可以测量金属材质、管道、压力容器、板材（钢板、铝板）、塑料、铁管、PVC管、玻璃等其他特殊材料的厚度；也可测量高温管壁厚度，可穿透表面涂层直接测量基材厚度；也应用于制作业、金属加工业、化工业、商检业等检测领域。

涂层测厚仪 285     

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CM30涂层测厚仪可选配探头： F3：0~3000um N2：0~2000um FN1.5：0~1500um F10：0~10000um 特点：CM30系列涂层测厚仪经过CNC精密机械加工及阳极氧化处理。仪器从机身到接插件均做防水密封处理，符合IP68防水防尘标准。 应用范围：本仪器可广泛应用于制造业、金属加工业、航天航空、铁路运输、化工业、商检业等检测领域，是无损检测行业的必备仪器。

涂层测厚仪 344     

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CM10系列涂层测厚仪应用于电子业、发电厂、石油化工、航空、建筑等领域。例如：适用于磁性金属表面喷漆、汽车表面喷漆、磁性金属表面电镀（门把手）等。

彩屏硬度计 347     

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彩屏硬度计适用于已安装的机械或其他组织部件、磨具型腔、重型工件、压力容器，汽车发电机组机其他设备的失效分析、狭小的测试区域、轴承及其他零件生产流水线、金属材料仓库的材料区分及大型工件的现场硬度检测以及生产线上工件的批量检测。 还应用于金属制造业、运输业、发电厂、石油化工、航空、建筑及实验室等领域。

高精密超声波测厚仪 247     

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PM5系列超声波测厚仪适用于汽车车身钢板、碳纤维、管道内部氧化层、吸波材料、冲压件、小管径管道、防火/防盗门、铜门/门板、灭火器、办公卷柜、金属楼梯扶手、炊具用品等材料的厚度测量。

TOFD检测仪 529     

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HS 810是一款基于超声衍射时差法研发的TOFD检测仪器，是目前资格取证的主用仪器（特种行业TOFDⅡ级人员资质培训考核样板机），可支持3对TOFD探伤通道，可配置3对TOFD探头（可扩展），支持对厚度为12mm-200mm工件的进行一次性全覆盖扫查。对于平板或对接焊缝中部缺陷检出率很高，容易检出方向性不好的缺陷，可以识别向表面延伸的缺陷。

相控阵检测仪 371     

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HS PA30-X相控阵检测仪适用于碳钢、不锈钢、合金钢、铜、铝等各种金属材质及非金属材质的板材、焊缝、铸件、锻件、管材等不同加工工艺及结构形态的内部多种缺陷(裂纹、夹杂、疏松、气孔等)的快速和准确检测、定位、评估和诊断。

超声波相控阵检测仪 376     

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HS PA30-E是一款全聚焦相控阵检测仪，支持64阵元全聚焦，能够满足更加复杂的相控阵检测需求，检测数据实时分析。

红外在线测厚仪 371     

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赛默斐视SIMV涂层测厚仪是应用固定近红外波长测试不同产品含水量的近红外光电分析仪器，是一体化的仪器，所有连续监测必需的组件均置于仪器内，根据波长的不同可以同时测试两种成分(例如水胶和油胶的涂层厚度)。

X射线在线测厚仪 364     

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系统采用“O”型框架横跨整个产线，通过运动模块在产线正常时左右移动，来实现对产品整个幅面的厚度在线测量。系统采用穿透测衰减的检测方式，光子由X射线管从材料的一侧穿透到材料的另一侧，同时在通过材料下方的的接收器进行接收，当接收器接收到透射过来的X射线同时在内部形成脉冲量，从而精确且稳定的反映出被测材料的厚度。

纳米光谱在线测厚仪 353     

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现代薄膜涂布镀层工艺在进行在线生产过程中，需要对膜厚及涂层厚度进行实时的在线测厚，由于传统的射线类膜厚检测仪检测精度低、易偏移、难于校准等缺点给实际的工艺产品质量控制造成了很大的影响，SIMV涂层(膜厚)在线测厚仪，采用纳米光学干涉的方式，可同时对20层不用涂层、薄膜进行同时测量，同时精度高达1nm，完美的解决了传统射线类在线测厚仪有辐射、偏移周期长、检测精度低、不能检测涂层厚度的缺点。赛默斐视涂层厚度在线测厚仪检测精度高，同时能够实时在线自动校准，有效的保证了在线测厚仪的检测精度。