有色金属物理检测设备

VITA　反应离子刻蚀机（垂直腔室） 1731     

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反应离子刻蚀系统，垂直腔室

SPRm200 表面等离子共振显微镜 1889     

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SPRm200 表面等离子共振显微镜 工作原理基于表面等离子共振（SPR）技术。是将表面等离子体共振技术和光学显微镜巧妙结合为一体的生物传感检测仪。可以同时得到细胞原位明场成像、SPR成像、及SPR动力学曲线定量亲和常数、结合解离常数，它为免标记研究分子相互作用的领域开辟一个崭新的前沿。专门针对细胞膜蛋白和相关分子免标记检测而设计的SPRm200， 使您在不需要从细胞中提取和分离膜蛋白的前提下实时观察细胞结构并同时测量药物和靶点在细胞上的结合过程。还可进行对药物和在天然状态下的膜蛋白之间相互作用的测量，高分辨SPR成像，可

原位纳米压痕仪 2032     

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NanoFlip产品既可以工作在真空环境下进行各种原位力学测试；也可以直接在大气环境下测试样品的硬度、杨氏模量或者其它物理力学性能。 NanoFlip在硬度和杨氏模量测试、连续刚度测试（CSM）、力学性能谱图（Mapping）、纳米动态力学分析（DMA）、划痕和磨损测试、柱压缩等测试中表现出色，可同时将SEM图像与力学测试数据同步。NanoFlip还可以进行快速压痕测量，这是在惰性环境（如手套箱）中研究非均相材料的重要手段。

Candela CS920表面缺陷检测仪 1730     

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KLA Candela光学表面缺陷分析仪（OSA）可对半导体及光电子材料进行先进的表面检测。Candela系列既能够检测Si、砷化镓、磷化铟等不透明基板，又能对SiC、GaN、蓝宝石和玻璃等透明材料进行检测，成为其制程中品质管理及良率改善的有力工具。 Candela系列采用光学表面分析（OSA）专用技术，可同时测量散射强度、形状变化、表面反射率和相位转移，为特征缺陷（DOI）进行自动侦测与分类。OSA检测技术结合散射测量、椭圆偏光、反射测量与光学形状分析等基本原理，以非破环性方式对Wafer表面的残留异物，表面与表面下缺陷，形状变化和薄膜厚度

电阻率测试仪 1628     

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Filmetrics的薄膜电阻测量设备开发源自于有着超过30年经验的KLA的薄膜电阻计量技术，并由20年台式测量设备开发经验的Filmetrics团队完善了桌面式方块电阻测量产品。KLA薄膜电阻测量技术包括接触（4PP）和非接触（EC）方法。 Filmetrics的R50系列方块电阻测量仪器可测量沉积在多种基材上的导电片和薄膜，跨越10个数量级范围电阻率，包括：半导体晶圆基板、玻璃基板、塑料（柔性）基材、PCB图案特征、太阳能电池、平板显示层和图案化特征、金属箔

Desk V 薄膜沉积解决方案 1688     

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Desk V样品制备系统配制用于蒸发和溅射，是一种高生产率的解决方案，可提供卓越、一致和高度可重复的结果。 Desk V镀膜系统提供两种版本：Desk V HP和Desk V TSC。Desk V TSC，是涡轮分子泵溅射镀膜机选项，专为高分辨率显微镜样品设计，适用于氧化和非氧化金属。Desk V磁控溅射装置精确沉积导电镀膜，其热蒸发选项可以沉积薄碳层(使用棒材或纱线)。

D300 经济型高精度台阶仪 1656     

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Alpha-Step D-300 探针式轮廓仪支持台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力的2D 测量。光学杠杆传感器技术提供高分辨率测量，大垂直范围和低触力测量功能。 探针测量技术的一个优点是它是一种直接测量，与材料特性无关。可调节的触力以及探针的选择都使其可以对各种结构和材料进行测量。通过测量粗糙度和应力，可以对工艺进行量化，确定添加或去除的材料量，以及结构的多种变化。

ezAFM-便携式原子力显微镜 1660     

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ezAFM是新设计的精致型原子力显微镜，具有设计紧凑、美观大方、高稳定性、占用空间小等特点，而且软件功能强大、操作简单、用户界面良好，而且价格实惠，性价比较为高。它是理想的实验室用原子力显微镜，广泛应用于高等教育、纳米技术教育和基础研究等领域。产品系列包括：ezAFM、ezAFM+、ezAFM AQUA、以及ezAFM-Vacuum，ezSTM除了基本的形貌等扫描，可以用于电学、磁学等拓展模式，以及液相、真空环境等。

MVI原子力显微镜与可见-红外-拉曼联用系统 1705     

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在具备常规原子力显微镜功能的条件下，基于光诱导力显微镜（Photo-induced Force Microscope, PiFM)技术，结合波长可调的可见-红外光源，从而实现10nm以下空间分辨可见-红外成像与光谱采集，无需远场光学接收器及光谱仪。VistaScope原子力显微镜还可以与各类拉曼光谱仪进行联用，组成原子力显微镜与可见-红外-拉曼联用系统，以满足科研人员在纳米尺度下的测试需求。

P7 晶圆探针式轮廓仪/台阶仪 1652     

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KLA是全球半导体在线检测设备市场较大的供应商，在半导体、数据存储、 MEMS 、太阳能、光电子以及其他领域中有着不俗的市占率。 P-7是KLA公司的第八代探针式台阶仪系统，历经技术积累和不断迭代更新，集合众多技术优势。 P-7建立在市场领先的P-17台式探针轮廓分析系统的成功基础之上。 它保持了P-17技术的测量性能，并作为台式探针轮廓仪平台提供了好的性价比。 P-7可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量，其扫描可达150mm而无需图像拼接。从可靠性表现来看， P-7具有较好的测量重复性。UltraLite®传感器具有动态力控制，

数显布洛维硬度计SHBRV-187.5 1827     

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硬度是材料机械性能的重要指标之一，而硬度试验则是判断金属材料或零件质量的重要手段。此硬度计是通过位移传感器和光电编码器测量并通过内部微电脑系统计算处理后在4.8”大屏幕LCD显示的中产品，并可以通过打印机输出。由于金属的硬度与其他机械性能有相互对应关系，因此，大多数金属材料可以通过测定硬度近似地推算出其他机械性能，如强度、疲劳、蠕变和磨损等。

北京美泰超声波测厚仪MT160 1688     

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本仪器可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。适合测量金属（如铜、铸铁、铝、铜等）、塑料陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他任何超声波的良导体的厚度。

数显洛氏硬度计HRS-150 1552     

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主要用于测量淬火钢、调质、退火钢，冷硬铸件，可锻铸件，硬质合金钢，铝合金，铜，轴承钢等的洛氏硬度。

平板金属探测仪 1013     

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GJT-F系列金属探测仪采用可拼装的差动变压器式传感器，在电路设计中采用了较新金属检测技术-数字移相及相关检测技术，具有性能稳定可靠，检测灵敏度高，较强的物料特性，优良的抗干扰能力。该产品主要用于火力发电、水泥、建材、造纸、矿山、食品、化工等行业中，对原料中混杂的各种金属物质进行检测，它是利用金属进入传感器电磁场时所产生的感应信号，经过信号放大处理电路来驱动执行机构动作，从而达到检测出有害金属。

STT 830系列一体式金属探测仪 775     

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传感器为封闭式窗口结构，不可拆分，窗口内部均为有效检测范围，体积小，稳定性好，控制器采用工业级触摸屏幕设计，中文，英文可选，操作简单、直观。

STT 830系列分体式金属探测仪 899     

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传感器为窗口式结构，可拆分，便于用户安装;控制器采用工业级触摸屏幕设计，中文，英文可选，操作简单、直观。

STT610C 运输带成套系列 872     

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该产品为成套设备，金属部件采用不锈钢304制作;运输带采用食品级专用皮带;传感器采用一体传感器，工作性能稳定;可以独立作为一个设备使用，也可以嵌入到生产线中使用。

双向观测全谱电感耦合等离子体发射光谱仪 3441     

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Plasma3000可广泛适用于冶金、地质、材料、环境、食品、医药、石油、化工、生物、水质等各领域的元素分析。

脉冲红外热导氧氮氢分析仪 2886     

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ONH-3000型氧氮氢分析仪采用脉冲加热,红外热导检测技术,可以实现全量程范围固体无机材料中氧、氮、氢元素的快速测定。

KLA Alpha-step D-300/D-600型-台阶仪 2598     

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Alpha-Step D-600探针式轮廓仪能够测量从几纳米到1200微米的台阶高度测量与三维形貌测量。D-600还可以在研发和生产环境中支持粗糙度、翘曲度和薄膜应力的测量。 D-600配置200毫米自动移动样品台与先进的Keystone矫正的辅助光学系统

台阶仪 2139     

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探针式轮廓仪 / 台阶仪 / P-17 Stylus Profiler产品名称：P-17 Stylus Profiler品牌：KLA-Tencor / KLA.型号：P-17 P-17支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量，适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量，其扫描可达200mm而无需图像拼接。

电池落球冲击试验机 839     

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锂电池冲击试验机/电池冲击检测仪/电池落球冲击试验机/电池碰撞试验机。

电池冲击碰撞试验台（气动式） 1001     

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BS电池冲击碰撞试验台(气动式)是我公司自主研发制造的国内外头个采用气动原理的冲击碰撞试验台，拥有完全的自主知识产权。与以往气压驱动的碰撞冲击试验台不同，先导式高频高速汽缸的使用确保了试件在下落过程中完全处于自由状态，真实地再现了试件在实际碰撞冲击环境中的受试状态。真正实现了一个试验台既可以进行碰撞试验，也能进行冲击试验的要求。

电池洗涤试验装置 805     

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电池洗涤试验装置(砖利号：201220243475)是广东贝尔研发的新砖利产品， 本实用新型涉及电池试验设备技术领域.

电池短路试验台 1016     

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电池短路试验台/短路测试机/大电流短路器，贝尔试验设备专业生产-中国名优企业适用测试项目：常温强制外部短路，55℃强制外部短路，强制放电。

Themys高温同步热分析仪 2571     

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法国塞塔拉姆仪器（Setaram Instrumentation）创立于上世纪中叶，隶属于凯璞科技集团，总部位于法国第二大城市-里昂，在美国，中国及欧洲各国设有分支机构。 70余年来，塞塔拉姆一直致力于为各行业的用户提供独特的热分析、微量热及气体吸附解决方案，尤其 在高温，高压及髙精度量热领域一直处于行业领导地位。在不断自我完善的同时，塞塔拉姆更见证了诸多用户的成功。

萤石分析仪 699     

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多元素分析仪测量范围：(因该仪器可检测的元素较多，现以钢中Mn、P、Si、Cr、Ni等常见元素为例) Mn：0.010～20.500% P：0.0005～1.0000% Si：0.010～18.000% Cr：0.010～38.000% Ni：0.010～48.000% Mo：0.010～7.00% ΣRE：0.0100～0.500% Mg：0.0100～0.800% Cu：0.010～8.000% Ti：0.010～5.000% 如多元素分析仪改变测试条件，该范围可相应扩大。

氧化钙化验仪器 945     

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多元素分析仪测量范围：(因该仪器可检测的元素较多，现以钢中Mn、P、Si、Cr、Ni等常见元素为例) Mn：0.010～20.500% P：0.0005～1.0000% Si：0.010～18.000% Cr：0.010～38.000% Ni：0.010～48.000% Mo：0.010～7.00% ΣRE：0.0100～0.500% Mg：0.0100～0.800% Cu：0.010～8.000% Ti：0.010～5.000% 如多元素分析仪改变测试条件，该范围可相应扩大。

GS-LBS2500激光成分分析仪 2171     

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GS-LIBS2500激光成分分析仪，是我司基于LBS技术研制而成的面向传送带物料成分在线检测的一体式检测设备，具有良好的检测可靠性和现场环境话应性。

GS-LIBS2200激光成分分析仪 2438     

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GS-LIBS2200激光成分分析仪是我司历经多年的技术攻关和现场测试，自主研制而成的面向高温熔体、固体或粉末物料等工业环境物料成分快速在线式检测设备。本产品的研发和应用突破了传統检测方法滞后性限制，填补了国内铜冶炼物料成分在线检測设啬空白，对于实现工业物料成分快检、进一步掌握冶炼规律、改进冶炼工艺和智慧工厂建设具有重要意义。