使用PeDX 贵金属分析仪对贵金属进行元素成份及纯度成色判断已经成为一种广泛应用、很受欢迎、且性能可靠的方法。与其他测试法相比,使用便携式X荧光分析仪对贵金属进行分析是一种更迅速、更经济的无损检测方法。可现场快速对黄金进行克拉级别鉴定,对镀金样品识别,对铂金、银及其它贵金属合金的化学成份进行精准分析等。
ScopeX桌面式XRF分析仪采用了先进的工业设计及人工工程学理念,精致美观。仪器整体拥有更小的机身体积和更大的样品仓,节约空间的同时,带来了更高的样品兼容性。不论是不同形态(固、液、气、薄膜等)还是不同形状(块状、片状、线状)的样品,均可被准确分析。适用于大规模连续分析、过程控制、产品质量检验等环节,是石油、镀层、贵金属、水泥、矿物、金属材料和塑料等多种行业的理想工具。
GJT-F系列金属探测仪采用可拼装的差动变压器式传感器,在电路设计中采用了较新金属检测技术-数字移相及相关检测技术,具有性能稳定可靠,检测灵敏度高,较强的物料特性,优良的抗干扰能力。该产品主要用于火力发电、水泥、建材、造纸、矿山、食品、化工等行业中,对原料中混杂的各种金属物质进行检测,它是利用金属进入传感器电磁场时所产生的感应信号,经过信号放大处理电路来驱动执行机构动作,从而达到检测出有害金属。
以色列ScanMaster公司是全球领先的超声波检测产品制造商,产品包括超声波仪器仪表,超声波检测及成像系统和传感器。ScanMaster产品适用于多个行业,包括:航空航天,管材,金属,汽车和火车轨道,车轮和车轴行业。解决方案适用于多种环境,包括实验室和生产设施。ScanMaster也是汽车行业检测系统的领先制造商,提供汽车生产线点焊的高端超声波检测解决方案,推出全球首台先进的基于PC的超声波点焊检测系统UT/Mate,只需简单地把UT/Mate通过USB串行接口就恶意链接到任何一台计算机/笔记本电脑上。
ezAFM是新设计的精致型原子力显微镜,具有设计紧凑、美观大方、高稳定性、占用空间小等特点,而且软件功能强大、操作简单、用户界面良好,而且价格实惠,性价比较为高。它是理想的实验室用原子力显微镜,广泛应用于高等教育、纳米技术教育和基础研究等领域。产品系列包括:ezAFM、ezAFM+、ezAFM AQUA、以及ezAFM-Vacuum,ezSTM除了基本的形貌等扫描,可以用于电学、磁学等拓展模式,以及液相、真空环境等。
原子力显微镜(Atomic Force Microscope, AFM)经过30多年的发展后,从形貌测试及其它常规功能来看已经非常成熟。然而常规的原子力显微镜也越来越无法满足科研人员在纳米尺度下对于样品进行多性质原位测试分析的需求,尤其在化学、光学、电学、热学、力学等领域。 在具备常规原子力显微镜功能的条件下,基于光诱导力显微镜(Photo-induced Force Microscope, PiFM)技术,结合波长可调的可见-红外光源,从而实现10nm以下空间分辨可见-红外成像与光谱采集,无需远场光学接收器及光谱仪。 此外,VistaScope原子力显微镜还可以与各类拉曼光谱仪
SPRm200 表面等离子共振显微镜 工作原理基于表面等离子共振(SPR)技术。是将表面等离子体共振技术和光学显微镜巧妙结合为一体的生物传感检测仪。可以同时得到细胞原位明场成像、SPR成像、及SPR动力学曲线定量亲和常数、结合解离常数,它为免标记研究分子相互作用的领域开辟一个崭新的前沿。专门针对细胞膜蛋白和相关分子免标记检测而设计的SPRm200, 使您在不需要从细胞中提取和分离膜蛋白的前提下实时观察细胞结构并同时测量药物和靶点在细胞上的结合过程。还可进行对药物和在天然状态下的膜蛋白之间相互作用的测量,高分辨SPR成像,可
NanoFlip产品既可以工作在真空环境下进行各种原位力学测试;也可以直接在大气环境下测试样品的硬度、杨氏模量或者其它物理力学性能。 NanoFlip在硬度和杨氏模量测试、连续刚度测试(CSM)、力学性能谱图(Mapping)、纳米动态力学分析(DMA)、划痕和磨损测试、柱压缩等测试中表现出色,可同时将SEM图像与力学测试数据同步。NanoFlip还可以进行快速压痕测量,这是在惰性环境(如手套箱)中研究非均相材料的重要手段。
KLA Candela光学表面缺陷分析仪(OSA)可对半导体及光电子材料进行先进的表面检测。Candela系列既能够检测Si、砷化镓、磷化铟等不透明基板,又能对SiC、GaN、蓝宝石和玻璃等透明材料进行检测,成为其制程中品质管理及良率改善的有力工具。 Candela系列采用光学表面分析(OSA)专用技术,可同时测量散射强度、形状变化、表面反射率和相位转移,为特征缺陷(DOI)进行自动侦测与分类。OSA检测技术结合散射测量、椭圆偏光、反射测量与光学形状分析等基本原理,以非破环性方式对Wafer表面的残留异物,表面与表面下缺陷,形状变化和薄膜厚度