江苏南京有色金属分析检测设备

LPRO-90放射性料位计-常规核仪表 2762     

 0

LPRO-90放射性料位计提高了非接触式料位测量系统的标准。这个简单、可靠、非插入式的测量系统可用于监测和控制各种反应器、容器和料仓中液体、泥浆和固体的料位或分界面。测量不受容器的大小、形状影响，也不受高温、高压或真空、腐蚀、磨损、蒸汽和灰尘的影响。由于使用了高灵敏度的闪烁探测器，加上专业技术人员详尽准确的设计，在保证使用人员安全的前提下，实现料位稳定、持续、可靠的测量。

脱色摇床-稳流稳压电泳仪 2301     

 0

型号规格：DY-601V(DYY-2型)、DY-602V(DYY-5型)技术指标：型号主要技术指标DY-601V(DYY-2型)0～600V 0～100mA连续可调指针式用于常压电泳DY-602V(DYY-5型)0～600V 0～200mA

热导率动态测量仪（物理实验仪器） 2117     

 0

型号规格：RB-I单机组(1+1)、RB-IA星型组(4+1)技术指标：型号主要技术指标RB-I单机组(1+1)1台“热导率动态测量仪”主机，1台电脑，控制接口，控制软件，使用说明，讲义RB-IA星型组(4+1)4台“热导率动态测量仪”主机，1台电脑，1台星型分布控制器，控制软件，使用说明，讲义

小型制冷机和制冷性能实验仪（物理实验仪器） 2292     

 0

型号规格：HT-188技术指标：型号主要技术指标HT-188HT-188型小型制冷机制冷性能实验仪是一种专门用于高等学校物理实验教学的装置。它由小型制冷试验机和制冷性能实验仪两部分组成。利用该实验装置可获得温度--时间响应特性，制冷量--温度特性，制冷系数和制冷效率并进行热过程分析。

变温霍尔效应仪（物理实验仪器） 2149     

 0

霍尔效应的测量是开展半导体研究的重要方法。本机利用计算机的数据采集和处理在80K-380K温度范围内对霍尔系数和电导率的联系测量，进行半导体电机制及散射机制的研究，并可确定半导体的一些基本参数，如导电类型、载流子浓度、迁移率、禁带宽度以及杂质电离能等。

炉衬激光测厚仪 1506     

 0

ZLM3000型激光测厚仪是先进的炉衬厚度测量系统。它使用高速激光和摄像技术对转炉或钢包内壁进行测量，短短数分钟内，即可建立整个转炉或钢包内壁完整的3D模型。通过前后模型的对比，可得出整个内壁耐火层的侵蚀程度。这为客户做出正确决策提供了更多有效且可靠的信息。

离子溅射仪 2431     

 0

LZ-Ⅱ离子溅射仪镀膜基本原理是基于荷能正离子轰击靶电极产生溅射现象，靶被溅射出来的中性原子沉淀于基台上样品表面成膜，形成导电层。

脱色摇床-生化分析仪器 1489     

 0

型号规格： TY-80B、TY-80S技术指标：型号主要技术指标TY-80B1.上下摇摆次数：0～80次/分 连续可调2.工作台面积：210×280mmTY-80S1.水平摇摆次数：0～80次/分 连续可调2.工作台面积：210×280mm

脱色摇床-流稳压电泳仪（数显） 1988     

 0

型号规格：DY-301S、DY-602S(DYY-8B)、DY-604D(DYY-6B)、DY-1001S、DY-1601D(DYY-4)技术指标：型号主要技术指标DY-301S0～300V 0～100mA连续可调数显用于蛋白质、核酸等生物大分子分离

脱色摇床-核酸蛋白检测仪 1548     

 0

HDJ-2B(HD-2)技术指标：1.测试波长：254nm,280nm2.流动式样品池：容积100uL3.数显窗口可直接读取吸光度A或透过率T4.与记录仪配接可自动绘制样品分离的图谱5.配接HD-A电脑采集器，可显示、保存、打印当前及过去的洗脱图谱。

炉衬激光测厚仪，先进的炉衬厚度测量系统 2214     

 0

ZLM3000型激光测厚仪是先进的炉衬厚度测量系统。它使用高速激光和摄像技术对转炉或钢包内壁进行测量，短短数分钟内，即可建立整个转炉或钢包内壁完整的3D模型。通过前后模型的对比，可得出整个内壁耐火层的侵蚀程度。这为客户做出正确决策提供了更多有效且可靠的信息

PPRO-80放射性料位开关-常规核仪表 1379     

 0

PPRO-80放射性料位开关可用于各种反应器、容器和料仓中液体、泥浆和固体的限位监测。测量不受容器的大小、形状影响，也不受高温、高压或真空、腐蚀、磨损、蒸汽和粉尘的影响。由于使用了高灵敏度的闪烁探测器，加上基于大数据的放射源计算软件，确保放射源的活更小，辐射防护更简单、安全性更好。