Filmetrics的薄膜电阻测量设备开发源自于有着超过30年经验的KLA的薄膜电阻计量技术,并由20年台式测量设备开发经验的Filmetrics团队完善了桌面式方块电阻测量产品。KLA薄膜电阻测量技术包括接触(4PP)和非接触(EC)方法。 Filmetrics的R50系列方块电阻测量仪器可测量沉积在多种基材上的导电片和薄膜,跨越10个数量级范围电阻率,包括:半导体晶圆基板、玻璃基板、塑料(柔性)基材、PCB图案特征、太阳能电池、平板显示层和图案化特征、金属箔
ezAFM是新设计的精致型原子力显微镜,具有设计紧凑、美观大方、高稳定性、占用空间小等特点,而且软件功能强大、操作简单、用户界面良好,而且价格实惠,性价比较为高。它是理想的实验室用原子力显微镜,广泛应用于高等教育、纳米技术教育和基础研究等领域。产品系列包括:ezAFM、ezAFM+、ezAFM AQUA、以及ezAFM-Vacuum,ezSTM除了基本的形貌等扫描,可以用于电学、磁学等拓展模式,以及液相、真空环境等。
在具备常规原子力显微镜功能的条件下,基于光诱导力显微镜(Photo-induced Force Microscope, PiFM)技术,结合波长可调的可见-红外光源,从而实现10nm以下空间分辨可见-红外成像与光谱采集,无需远场光学接收器及光谱仪。VistaScope原子力显微镜还可以与各类拉曼光谱仪进行联用,组成原子力显微镜与可见-红外-拉曼联用系统,以满足科研人员在纳米尺度下的测试需求。
KLA是全球半导体在线检测设备市场较大的供应商,在半导体、数据存储、 MEMS 、太阳能、光电子以及其他领域中有着不俗的市占率。 P-7是KLA公司的第八代探针式台阶仪系统,历经技术积累和不断迭代更新,集合众多技术优势。 P-7建立在市场领先的P-17台式探针轮廓分析系统的成功基础之上。 它保持了P-17技术的测量性能,并作为台式探针轮廓仪平台提供了好的性价比。 P-7可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达150mm而无需图像拼接。从可靠性表现来看, P-7具有较好的测量重复性。UltraLite®传感器具有动态力控制,
硬度是材料机械性能的重要指标之一,而硬度试验则是判断金属材料或零件质量的重要手段。此硬度计是通过位移传感器和光电编码器测量并通过内部微电脑系统计算处理后在4.8”大屏幕LCD显示的中产品,并可以通过打印机输出。由于金属的硬度与其他机械性能有相互对应关系,因此,大多数金属材料可以通过测定硬度近似地推算出其他机械性能,如强度、疲劳、蠕变和磨损等。
GJT-F系列金属探测仪采用可拼装的差动变压器式传感器,在电路设计中采用了较新金属检测技术-数字移相及相关检测技术,具有性能稳定可靠,检测灵敏度高,较强的物料特性,优良的抗干扰能力。该产品主要用于火力发电、水泥、建材、造纸、矿山、食品、化工等行业中,对原料中混杂的各种金属物质进行检测,它是利用金属进入传感器电磁场时所产生的感应信号,经过信号放大处理电路来驱动执行机构动作,从而达到检测出有害金属。
加快材料研究的突破性进展,您的实验室需要一台具备快速准确分析大量材料微观结构的扫描电镜。第六代 Phenom ProX 飞纳台式扫描电镜能谱一体机引入了全新一代操作系统,通过改进光路设计,将分辨率提升到新高度。能谱操作界面与能谱算法进一步升级,易于操作,元素分析更快
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