合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 一架整片晶圆基片上硅晶体缺陷自动垂直刻蚀仪

一架整片晶圆基片上硅晶体缺陷自动垂直刻蚀仪

1006   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:43
本发明公开一架整片晶圆基片上硅晶体缺陷自动垂直刻蚀仪,包括:机壳(1),其上设置有控制面板(2)及升降控制键(3);刻蚀槽,包括第一刻蚀槽(4)和第二刻蚀槽(5),分别对称设置于刻蚀机械支架的两侧,刻蚀槽为垂直式;刻蚀机械支架,包括水平移动支架和晶圆样品支架(8),水平移动支架包括滑轨(6)以及滑块(7),晶圆样品支架(8)连接于滑块(7)两侧;滑块(7)与升降装置(9)相连接。所述刻蚀仪通过对整片晶圆基片采用垂直悬挂式刻划以及自动水平移动,有效去除化学刻蚀垃圾,避免引入人工缺陷假象,从而大大提高对硅晶体缺陷失效分析的准确性,并通过双槽设计提高硅晶体缺陷失效分析的快速性。
声明:
“一架整片晶圆基片上硅晶体缺陷自动垂直刻蚀仪” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

2024退役新能源器件循环利用技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记