本申请实施例通过提供一种存储器失效地址的输出方法及相关设备,用以解决现有的存储器失效地址输出过程效率较低的问题。上述方法包括:获取目标存储器的结构信息;根据测试数据记录失效信息,测试数据为测试设备对目标存储器测试后得到的失效地址,失效信息包含目标存储器中每个层级包含的失效地址数量;根据失效信息按照层级进行分析,确定目标存储器的失效类型,其中,失效类型包括第一失效类型及第二失效类型,第一失效类型用于表征目标存储器中失效单元按照整个层级失效,第二失效类型用于表征失效单元呈散点分布;根据预设输出策略,按照失效类型选取对应的输出方式进行输出,其中,预设输出策略中包含有每个失效类型对应的输出方式。
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