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压接型IGBT器件的短路失效测试方法及装置

689   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:34
本发明公开一种压接型IGBT器件的短路失效测试方法及装置,其中方法包括:获取待测压接型IGBT器件在短路失效状态下的第一电压和第一电流,第一电压为待测压接型IGBT器件的集电极与发射极之间的电压,第一电流为待测压接型IGBT器件的集电极电流;根据第一电压和第一电流,计算待测压接型IGBT器件在短路失效状态下的失效电阻;在待测IGBT器件发生短路失效后的预设时间内获取失效电阻的变化率;根据失效电阻的变化率确定待测压接型IGBT器件的短路失效特性。本发明通过短路失效测试可以确定出待测压接型IGBT器件的失效电阻的电阻变化率,进而可以评估待测压接型IGBT器件的短路失效特性,可实现待测压接型IGBT器件投入到电力系统中进行可靠运行,并可以增强其使用寿命。
声明:
“压接型IGBT器件的短路失效测试方法及装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
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