合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 半导体失效检测结构及其检测方法

半导体失效检测结构及其检测方法

710   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:31
本申请提供一种半导体失效检测结构及其检测方法,应用于半导体器件失效检测过程,半导体失效检测方法包括:在待检测晶圆预设范围内设置参考层;获取设置参考层对应待检测晶圆的晶圆图像;将晶圆图像与检测标准图像进行对比,根据参考层得到待检测晶圆中失效的位置信息及分析结果。本说明书实施例设置类似金属材料的参考层,该参考层为多个最小单元规则排布的参考块,尤其使参考块构成的参考层呈米型状或T型状排布,优化测试结构周边和上下层dummy结构的设计,在不影响各种不同功能的测试结构的基础上,不仅有助于形成更加清晰高对比度的测试结构图形影像,而且大大提升失效分析定位的准确性和物性失效分析的成功率和效率。
声明:
“半导体失效检测结构及其检测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

2024退役新能源器件循环利用技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记