本发明涉及OLED显示器件的检测领域,尤其涉及一种OLED显示器件失效检测探测系统,包括:混气输入装置,探测器装置,控制器及排气装置。本发明能检测出水汽、氧气、温度、交直流对OLED等薄膜半导体器件效率的影响结果,筛选出有效的封装材料及结构,同时,也可以从气氛、温度、湿度、电流等多角度、全方面地进行故障分析,从而实现OLED显示器件造价低、功能多、使用成本低的特点,进而满足大部分科研及工业生产需要。另,本发明还提供了一种OLED显示器件失效的检测方法。
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