合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 自动识别芯片物理缺陷的失效分析方法

自动识别芯片物理缺陷的失效分析方法

817   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:31
本发明涉及自动识别芯片物理缺陷的失效分析方法,涉及半导体集成电路失效分析技术,通过扫描电镜图像抓取,对抓取的图形进行版图提取形成提取版图,版图查找并将提取版图在完整的芯片原始版图中找到对应的部分并做叠层处理形成叠层版图,然后叠层版图粗略识别,叠层版图精确识别完成物理缺陷的自动识别,不需要人工肉眼观察,因此效率高且准确率高。
声明:
“自动识别芯片物理缺陷的失效分析方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届中国微细粒矿物选矿技术大会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记