工作原理
4XC显微镜采用无限远光学系统,通过高数值孔径(NA)平场消色差物镜(5X/10X/40X/100X可选)与可调亮度柯勒照明系统,将样品表面的微观细节放大并投射至目镜或数码接口。其核心为三目观察头设计,支持100%人眼观察与0%/100%数码成像自由切换,可外接高清工业相机(如500万像素CMOS传感器),实时捕捉金相图像并传输至计算机。配合专业金相分析软件,可对晶粒度、夹杂物、相组成等参数进行自动测量与统计,输出可视化报告。
应用范围
金属材料分析:钢铁、铝合金、铜合金等材料的晶粒度评级、非金属夹杂物检测、热处理效果评估;
失效分析:断口形貌观察、裂纹扩展路径分析、腐蚀产物成分鉴定;
质量控制:铸造件、锻造件、焊接件的微观缺陷检测(如疏松、偏析);
科研教学:材料制备工艺优化、金相组织演变研究、实验教学演示与图像采集。
技术参数
光学系统:无限远校正光学系统,齐焦距离45mm
物镜配置:平场消色差物镜(5X/NA 0.12、10X/NA 0.25、40X/NA 0.65、100X油镜/NA 1.25)
目镜:高眼点宽视野目镜(10X/Φ20mm,带视度调节)
照明系统:6V/30W卤素灯(亮度连续可调),柯勒照明模式
数码接口:C-Mount标准接口(适配2/3英寸传感器),支持USB3.0传输
载物台:双层机械载物台(尺寸180mm×150mm,移动范围75mm×50mm,游标精度0.1mm)
调焦机构:同轴粗微调焦(粗调行程25mm,微调精度0.002mm)
产品特点
高清晰成像:平场消色差物镜与无限远光路设计,消除像差与色差,确保图像边缘清晰锐利。
智能分析功能:配套软件支持晶粒度自动评级(ASTM E112标准)、夹杂物分类统计、二值化图像处理等功能。
人性化操作:三目头30°倾斜设计,缓解长时间观察疲劳;载物台X/Y向锁定功能,防止样品意外移动。
耐用可靠:全金属机身与防霉处理光学部件,适应实验室高湿度环境;LED升级选项(可选配)提升光源寿命至5万小时。
模块化扩展:支持偏光装置、暗场附件、微分干涉相衬(DIC)模块的加装,满足多样化分析需求。