合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 用于芯片失效性分析的分离装置

用于芯片失效性分析的分离装置

788   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:31
本实用新型公开了一种用于芯片失效性分析的分离装置,包括支撑基板、刀片、用于带动刀片升降的升降调节器和芯片支撑架,所述芯片支撑架与支撑基板固定,芯片支撑架上设有至少一个用于放置芯片的芯片槽,刀片固定在升降调节器上,刀片的刃口朝向芯片槽,所述升降调节器与支撑基板滑动连接,以使升降调节器远离或靠近芯片槽。本实用新型提供了一种用于芯片失效性分析的分离装置,可以对芯片本体和基板进行快速分离,且操作简单方便,操作过程安全可靠。
声明:
“用于芯片失效性分析的分离装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

2024退役新能源器件循环利用技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记